Gebraucht JEOL JEM 100CX-II #293800608 zu verkaufen

JEOL JEM 100CX-II
ID: 293800608
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 100CX-II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende bildgebende und analytische Fähigkeiten für eine breite Palette von Forschungsanwendungen in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen bietet. Dieses Instrument wird von JEOL Ltd., einem führenden Anbieter von elektronenmikroskopischen Lösungen, entwickelt und hergestellt und stellt eine signifikante Weiterentwicklung auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie dar. Hauptmerkmale: JEM 100CX-II ist mit einer Reihe modernster Funktionen ausgestattet, die es Forschern ermöglichen, detaillierte Analysen auf Nanoskala durchzuführen. Eines der Hauptmerkmale dieses Instruments ist seine hochauflösende Bildgebung, die die Visualisierung von Proben mit außergewöhnlicher Klarheit und Detailtreue ermöglicht. Das Elektronenoptiksystem des Mikroskops ist so optimiert, dass es eine überlegene Auflösung und Bildqualität bietet und somit ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen geeignet ist. Neben der hochauflösenden Bildgebung bietet JEOL JEM 100CX-II auch erweiterte Analysefunktionen. Das Gerät ist mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopiesystem (EDS) ausgestattet, das es Forschern ermöglicht, Elementaranalysen von Proben mit hoher Empfindlichkeit und Genauigkeit durchzuführen. Dieses Merkmal ist besonders nützlich, um die chemische Zusammensetzung von Materialien zu identifizieren und ihre Eigenschaften auf atomarer Ebene zu untersuchen. JEM 100CX-II ist auch mit einer Reihe von Zubehör und Optionen ausgestattet, die seine Funktionalität und Vielseitigkeit verbessern. Beispielsweise kann das Mikroskop mit verschiedenen Detektoren, wie Sekundärelektronendetektoren und rückgestreuten Elektronendetektoren ausgestattet werden, die es Forschern ermöglichen, verschiedene Arten von Elektronensignalen und Bildern zu erfassen. Darüber hinaus kann das Instrument mit speziellen Probenhaltern und -stufen für die Handhabung verschiedener Probentypen und die Durchführung spezifischer Experimente ausgestattet werden. Anwendungen: JEOL JEM 100CX-II eignet sich für eine breite Palette von Forschungsanwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie, Geologie und mehr. Die hochauflösenden bildgebenden und analytischen Fähigkeiten des Mikroskops machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Untersuchung der Struktur, Zusammensetzung und Eigenschaften verschiedener Materialien und Proben auf Mikro- und Nanoskala. In der Materialwissenschaft können JEM- 100CX-II verwendet werden, um die Morphologie und Struktur von Materialien zu analysieren, die Verteilung von Elementen in Proben zu untersuchen und die kristallographischen Eigenschaften von Materialien zu untersuchen. Mit dem Mikroskop können Forscher Einblicke in die Mikrostruktur von Materialien gewinnen, Defekte und Verunreinigungen identifizieren und die Eigenschaften von Materialien für verschiedenste Anwendungen charakterisieren. In Biologie und Biowissenschaften kann JEOL JEM 100CX-II verwendet werden, um biologische Proben wie Zellen, Gewebe und Mikroorganismen mit hoher Auflösung und Klarheit zu untersuchen. Forscher können die Ultrastruktur biologischer Proben beobachten, zelluläre Organellen und Komponenten untersuchen und die Wechselwirkungen zwischen biologischen Molekülen auf nanoskaliger Ebene analysieren. Die hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten des Instruments machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für ein breites Spektrum biologischer Forschungsstudien. Insgesamt ist JEM 100CX-II ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das fortschrittliche bildgebende und analytische Fähigkeiten für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen bietet. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung, seinen elementaren Analysefähigkeiten und seinem vielseitigen Zubehör ist dieses Instrument ein wertvolles Werkzeug für Forscher verschiedener wissenschaftlicher Disziplinen, die Materialien, biologische Proben und andere Proben auf Nanoskala mit Präzision und Genauigkeit untersuchen möchten.
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