Gebraucht JEOL JEM 100CX #9257453 zu verkaufen

JEOL JEM 100CX ist eines der leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskope (SEM) auf dem Markt. Es trägt insgesamt 4 Port-Rohre, so dass es ein Multifunktionssystem mit verschiedenen Fähigkeiten. Das 100CX ist ein stabiles und zuverlässiges Gerät, das lange Zeit mit minimaler Wartung arbeiten kann und in der Lage ist, Proben aus den unterschiedlichsten Bereichen und mit einer Reihe von Auflösungen von wenigen Nanometern bis über 10 Mikrometer zu scannen. JEOL 100CX wurde entwickelt, um seine Feldemitter zu optimieren und seine bildgebende Leistung zu optimieren, indem sowohl die sekundären als auch die rückgestreuten Elektronen verwendet werden. Diese Kombination ermöglicht eine optimale Auflösung der Probe, sowohl in Bezug auf Klarheit als auch auf Details. Das 100CX ist ein Hochleistungs-Planar-SEM, das es ideal für die Abbildung von empfindlichen zweidimensionalen Proben wie Isolationstransistoren oder biologischen Proben macht. Diese erlauben es, 3D-Bilder davon zu studieren und zu produzieren. Dank des integrierten kombinierten Detektorabschnitts kann die 100CX auch für die elementare und chemische Analyse verwendet werden. Der Standarddetektortyp umfasst einen EBIC, BSE-Detektor, ein energiedispersives Röntgenspektrometer und einen WDS- oder einen RBS-Detektor. Das EBIC-Detektormodul ermöglicht eine hochauflösende Abbildung der Probe, da das Elektronensignal auf das Merkmal optimiert ist, während das BSE-Detektormodul Sekundärelektronen erzeugt. Die verbleibenden beiden Detektoren ermöglichen eine energiedispersive Röntgenanalyse sowie RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) und WDS (Wellenlängendispersive Spektroskopie). JEOL 100CX kann auch seine Bühnen- und Probenhöhe mit einer Präzision von 50 Mikrometern steuern, wodurch Benutzer sich auf die Oberfläche der Probe für eine erhöhte Auflösung konzentrieren können. Der Niedervakuum-Modus des Instruments ermöglicht auch die Untersuchung einer Vielzahl von Proben, von nichtleitenden Proben bis zu hochleitenden Proben. Weitere Leistungsmerkmale von JEOL 100CX umfassen niedrige Rauschpegel und Niederspannungsbetrieb, einen breiten Akzeptanzwinkeldetektor und einen mechanischen Scanner, der auf wenige Nanometer genau ist. Darüber hinaus ermöglicht die 100CX mit ihrer geringen Vergrößerungsfähigkeit auch eine einfache Steuerung sowohl vergrößerter als auch reduzierter Oberflächenabtastung. Die Eigenschaften von JEOL 100CX es zu einem der effektivsten SEMs machen, die für hochrangige Forschung zur Verfügung stehen. Dieses Modell gilt als Industriestandard sowohl für Universitäten als auch für Industrien, da es ein breites Spektrum an Funktionen und Fähigkeiten sowie ein hohes Leistungsniveau bietet. Abschließend ist JEOL JEM 100 CX eine ideale Wahl für diejenigen, die hochrangige Forschung mit einem leistungsstarken und zuverlässigen Rasterelektronenmikroskop durchführen möchten. Mit seiner breiten Palette an Detektoren, Portröhren und außergewöhnlichen Bildgebungsfunktionen bietet das 100CX selbst den anspruchsvollsten Anwendern die Werkzeuge, die sie für die Erkundung des Nanoskaliers benötigen.