Gebraucht JEOL JEM 1010 #9302701 zu verkaufen

JEOL JEM 1010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder und analytische Daten bei Vergrößerungen von bis zu einer halben Million Mal zu erzeugen. Kern des Gerätes ist seine elektronische Pistole, die einen hochenergetischen Elektronenstrahl erzeugt, der verwendet wird, um Oberflächen und Materialstrukturen im Nanoskalibereich zu detektieren, zu analysieren und abzubilden. Das System ist mit einer erweiterten Bildverarbeitungseinheit ausgestattet, die einen S-förmigen Scan ermöglicht, um Daten mit einer Auflösung von bis zu 1 nm zu erfassen. Es umfasst auch eine hochauflösende Backscatter-Detektionsmaschine für die Materialanalyse und einen Computer mit einer integrierten analytischen Softwareplattform für die Datenanalyse. Herzstück des Werkzeugs ist seine Elektronenkanone, die Elektronenstrahlen mit einem beschleunigenden Spannungsbereich von 0,5-30 kV und einem Strahlstrom von 1 nA erzeugen kann. Die Pistole enthält eine Elektronenquelle, eine Kondensatorlinse und eine Objektivlinse sowie mehrere andere Linsen und Öffnungen zur Feinabstimmung. Die Anlage ist mit einem herkömmlichen Thermoelektron emittiert und eine Feldemissionskanone Quelle ausgestattet. Das Steuerungsmodell ist mit Präzisionsabtastung und einer hochentwickelten Steuerungsausrüstung konzipiert, die eine sehr genaue Bildpositionierung und -manipulation ermöglicht. Das Bild wird durch die Bewegung des Elektronenstrahls über die abgetastete Oberfläche erzeugt, die zur Erfassung der gewünschten Daten abgetastet wird. Sobald das Bild aufgenommen ist, kann es mit der bereitgestellten Software verarbeitet und analysiert werden. JEM 1010 umfasst auch eine Vielzahl von spezialisierten analytischen Fähigkeiten, wie Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Elektronenenergieverlust Spektroskopie (EELS), elementare Kartierung und räumlich aufgelöste Spektroskopie. Außerdem berücksichtigt das System Überprüfung, Oberflächen mit dem Gebrauch einer niedrigen Stromspannung backscattered Elektronentdecker nichtzuführen, der Analyse sowohl von topografischen Eigenschaften als auch von Oberflächeneigenschaften berücksichtigt. JEOL JEM 1010 Rasterelektronenmikroskop ist eine sehr vielseitige, benutzerfreundliche Einheit, die es Forschern ermöglicht, hochauflösende Bilder und Analysedaten aus empfindlichen nanoskaligen Proben und Materialien zu erfassen. Durch die Kombination seiner leistungsstarken Elektronenkanone, seiner anspruchsvollen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten und einer integrierten Softwaremaschine ist das Tool ein ideales Werkzeug für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Anwendungen.