Gebraucht JEOL JEM 1011 #293654724 zu verkaufen

JEOL JEM 1011 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Bilder von Proben mit höchster Präzision und Detailgenauigkeit erzeugen kann. Der Aufbau des Instruments ermöglicht den Betrieb zweier Abbildungsmodi: Sekundärelektronenbildgebung (SEI) und rückgestreute Elektronenbildgebung (BEI). Im SEI-Modus verwendet JEM 1011 einen fokussierten Elektronenstrahl, um die Probenoberfläche abzutasten, wodurch Sekundärelektronen von der oberen Oberfläche der Probe emittiert werden. Die Sekundärelektronen werden dann von einem Detektor an der Basis des Instruments gesammelt und von einem Computer gemessen und verarbeitet, wodurch ein Bild erzeugt werden kann. Im BEI-Modus wird der fokussierte Strahl noch zur Abtastung der Probenoberfläche verwendet, aber ein Teil der Elektronen wird stattdessen aus den inneren Eigenschaften der Probe gestreut, wodurch ein Bild ihres Querschnitts erzeugt werden kann. Das Instrument ist auch in der Lage, die Energie der emittierten Sekundärelektronen zu messen und Aufschluss über die Art der Oberfläche der Probe zu geben. Anhand dieser Messdaten wird dann eine energiedispersive Spektroskopie (EDS) -Karte erstellt, mit der die elementare Zusammensetzung der Probe bestimmt werden kann. Die Kraft von JEOL JEM 1011 erweitert auch seine Fähigkeit, eine Vielzahl von Mustergrößen und Manipulationstechniken auszuführen. Das System verfügt über eine einstellbare Stufe für dynamisches Probenhandling sowie eine automatisierte Probenausrichtung für Proben bis 10 cm Durchmesser. JEM 1011 hat eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die in der Lage ist, Elektronenstrahlen mit hoher Helligkeit mit niedriger Betriebsspannung zu erzeugen. Dadurch wird sichergestellt, dass bei der Abbildung von Proben ein hochauflösendes Bild erzielt wird. Die hohe Manövrierfähigkeit des Elektronenstrahls kann auch so eingestellt werden, dass stabile Oberflächen für die Bildgebung zur Verfügung stehen und gleichzeitig chemische Kontrasteffekte reduziert werden. Darüber hinaus verfügt JEOL JEM 1011 über analytische Softwarepakete, mit denen Daten über die Zusammensetzung und Eigenschaften der Probe quantifiziert werden können. Um die Bedienung des Instruments zu vereinfachen, verfügt JEM 1011 über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, mit der der Techniker die Einstellungen einfach steuern kann. Es gibt auch eine Reihe von anderen nützlichen Zubehör, die kombiniert werden können, um das System zu verbessern. Dazu gehören Vergrößerungssteuerung und Stufenfiduziale, die helfen, die Genauigkeit der Bilderfassung sowie die Genauigkeit der X-Y-Probenpositionierung zu optimieren. Insgesamt ist JEOL JEM 1011 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit vielseitigen Fähigkeiten, was es zu einer guten Wahl für viele bildgebende und analytische Anforderungen macht.