Gebraucht JEOL JEM 1011 #293658628 zu verkaufen

JEOL JEM 1011 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben von biologischen bis hin zu mineralischen und materialwissenschaftlichen Proben entwickelt wurde. Es kann sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum arbeiten und verfügt über ein großes Sichtfeld, Photomultiplier-Detektionen und erweiterte Steuerungssysteme. JEM 1011 bietet hochauflösende Bildgebung mit Auflösungen bis zu 1 nm im sekundären Elektronen- (SE) Modus und 0,5 nm im rückgestreuten Elektronen- (BSE) Modus. Das SEM nutzt einen sehr energiereichen Elektronenstrahl, um Bilder von der Oberfläche einer Probe aufzunehmen. Die Quelle der Elektronen ist ein erwärmter Wolframfaden oder Feldemitter, gesteuert durch ein Rückkopplungssystem, das eine präzise Kontrolle über den Strahlstrom, die Energie und die Punktgröße ermöglicht. Alle Parameter können angepasst werden, um optimale Bedingungen für bestimmte Arten von Proben zu liefern. Der Probenhalter ist für die Aufnahme von Standard-SEM-Proben konzipiert und kann in bis zu zwei Richtungen gekippt werden, was eine Bilderfassung aus verschiedenen Winkeln ermöglicht. Zur Detektion der von der Probe emittierten Elektronen ist JEOL JEM 1011 mit einem rauscharmen Photomultiplier-Detektor mit großem Durchmesser ausgestattet. Es ist für eine hochgenaue Positionierung ausgelegt und verfügt über einen rauscharmen Vorverstärker zur optimalen Signalerkennung. Der Detektor kann rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen oder verschiedene Arten von Röntgenstrahlen (Charakteristik, Beugung usw.) detektieren. Um die Abbildung großer Oberflächen zu erleichtern, ist die JEM 1011 mit einem automatisierten Bühnen- und Musternavigationssystem ausgestattet. Auf diese Weise können Benutzer Probenoberflächen schnell und präzise scannen und bieten einen Überblick über die Probe, um interessante Regionen schneller zu identifizieren. Darüber hinaus verfügt JEOL JEM 1011 über eine leistungsstarke Software-Suite, mit der Benutzer alle Einstellungen des SEM anpassen sowie Bilder analysieren und manipulieren können. Dazu gehören Werkzeuge zur quantitativen Bildanalyse, Bildnähte für große Sichtfelder und eine Reihe von Algorithmen zur Bildverbesserung. JEM 1011 bietet eine breite Palette von Möglichkeiten für die Bildgebung und Analyse von Probenoberflächen, so dass Benutzer ihre Proben schnell und genau charakterisieren können. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung, anspruchsvollen Musterbehandlungssystemen und intuitiver Software macht JEOL JEM 1011 zu einem idealen Instrument für hochauflösende Bildgebung und Analyse.