Gebraucht JEOL JEM 1011 #293806784 zu verkaufen

JEOL JEM 1011 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche Forschungsmikroskop verfügt über eine Kaltfeld-Emissionskanone für verbesserte Bildauflösung und -kontrast, kombiniert mit einem ergonomischen Design für eine einfache und schnelle Bedienung. Es ist mit einem fortschrittlichen Waffenausrichtungssystem, einem Strahlstromstabilisator, einem präzisen Stufenausrichtungsmechanismus und einem Elektronenfänger ausgestattet. JEM 1011 hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV und einen Vergrößerungsbereich von bis zu 20000X. Die Bühne hat einen breiten Bewegungsbereich mit einem Drehbereich von ± 45 ° und einem Neigungsbereich von ± 20 °. Das Quellensteuerungssystem des Mikroskops ist für die hochauflösende Bildgebung konzipiert und ermöglicht verschiedene Bildverbesserungen, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung, Stereobildgebung und High-Tilt-Bildgebung. JEOL JEM 1011 beinhaltet die neuesten Bildverarbeitungstechniken, einschließlich automatisches Abschalten für kontrastreiche Bilder, Echtzeit-Kantenverbesserung, vibrationsfreie Bildgebung, digitale Signalverarbeitung und Strahlabtastung, um Probenschäden zu minimieren. Das Mikroskop umfasst auch eine dedizierte Geräteschnittstelle und Betriebssoftware sowie erweiterte Probenhandhabungsfunktionen. Die bildgebenden Fähigkeiten von JEM 1011 machen es für eine breite Palette von Anwendungen geeignet, einschließlich Halbleiter- und Nanopartikelanalyse, Biochemie, Materialwissenschaft und Umweltprüfung. Das Mikroskop ist in der Lage, hochauflösende, kontrastreiche Scans von Proben mit minimalen Stillstandszeiten zu erzeugen. Das fortschrittliche Waffenausrichtungssystem, der präzise Ausrichtungsmechanismus und der Elektronenfänger sorgen außerdem für eine zuverlässige Bildaufnahme und eine qualitativ hochwertige Leistung. Insgesamt ist JEOL JEM 1011 ein robustes und zuverlässiges Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop dank seiner Fähigkeit, zuverlässige Bilder auf einer breiten Palette von Proben zu erzeugen, mit minimalen Ausfallzeiten und einer maximalen Auflösung von bis zu 20000X. Dieses fortschrittliche Forschungsinstrument ist für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiter- und Nanopartikelanalyse, Biochemie, Materialwissenschaft und Umweltprüfung unerlässlich.