Gebraucht JEOL JEM 1200EX II #9250371 zu verkaufen

JEOL JEM 1200EX II ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für vielseitige Nanocharakterisierungsanwendungen. Dieses Modell verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) für verbesserte Elektronenoptik und hochauflösende Bildgebung. Das Mikroskop verfügt zudem über eine hochstabile x-y-Stufe für schnelles und genaues Probenscannen. Das SEM enthält einen In-Linsen-Detektor (IED) zum Detektieren von Sekundärelektronen (SEs) und einen BSE-Detektor (Backscatter Electron), um einen besseren Kontrast auf verschiedenen Probenleitfähigkeiten zu erzielen. Die Elektronenkanone hat eine beschleunigende Spannung von 1kV über 30kV und Probenstrom bis hin zu 200nA und eignet sich somit ideal für Nanocharakterisierungsanwendungen in der Materialwissenschaft, biologischen und industriellen Forschung. JEOL JEM 1200 EXII ist mit einer Ultrahochvakuum (UHV) -Technologie ausgestattet, die ein hohes Maß an Mikroskopievakuum und Sauberkeit gewährleistet, wodurch die Struktur der Probe ohne Störungen durch Luftmoleküle oder geladene Teilchen im Strahl beobachtet werden kann. Das Mikroskop kann auch verwendet werden, um Kryo-suspendierte Proben zu analysieren, die durch ein kaltes Futterzubehör und Stickstoffgas auf sehr niedrige Temperatur gekühlt werden. Die hochauflösenden 3D-Bilder werden mit einer 16-Bit-CCD-Kamera erhalten, wodurch die Genauigkeit und Auflösung der Beispielbilder verbessert wird. Die Digitalkamera wird an den SEM-Revolver angeschlossen, wo helles Feld (BF) Detektor, Dunkelfeld (DF) Detektor und rückgestreuten Elektronen (BSE) Detektor verwendet werden können. JEM 1200EX II bietet eine große Auswahl an Zubehör, darunter einen CL-Detektor (Cathodoluminescence), einen EDS-Detektor (Energy-Dispersive Spectroscopy), eine Finite-Element-Feldemissionslinse und eine motorisierte X-Y-Stufe für die automatisierte Probenabtastung. Die mit JEM 1200 EXII gebündelte Anwendungssoftware ermöglicht eine individualisierbare Bildgebung und Analyse der Proben. Die Software enthält mehrere voreingestellte Bildparameter und automatische Optimierungsfunktion, die es Benutzern ermöglicht, konsistente Bildgebungsleistung zu erhalten. Es ist auch möglich, Bilder zu speichern und Präsentationen in verschiedenen Formaten vorzubereiten. Die optionale Analysesoftware für automatisierte und fortschrittliche Analysen verbessert die mit diesem Modell erzielten bildgebenden Ergebnisse weiter. Insgesamt ist JEOL JEM 1200EX II eine ideale Wahl für Nanocharakterisierungsanwendungen. Es bietet hervorragende bildgebende Funktionen und ist einfach zu bedienen. Die Software-Integration ermöglicht eine präzise Bildverarbeitung und automatisierte Bildverarbeitung und ist damit ein unschätzbares Instrument für Forscher.