Gebraucht JEOL JEM 1200EX II #9250558 zu verkaufen

JEOL JEM 1200EX II Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein anspruchsvolles Stück wissenschaftliche Ausrüstung, ideal für die Untersuchung der physikalischen Eigenschaften von festen Materialien auf mikroskopischer Ebene. Das SEM arbeitet nach den Prinzipien der Ladungsfreigabe und -detektion von der Oberfläche einer Probe und ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und -analyse. Durch unterschiedliche Betriebsbedingungen wie Spannung, Vergrößerung und Arbeitsabstand kann das SEM Bilder bis zu 4 Nanometer in Auflösung mit einer Schärfentiefe von 30 µm erzeugen. JEOL JEM 1200 EXII ist für Benutzer aller Niveaus konzipiert. Seine benutzerfreundliche Oberfläche macht es einfach zu steuern und einrichten, mit dedizierten Tasten für häufig verwendete Funktionen. Der Bediener kann leicht zwischen Abbildungsmodi wie Mehrstrahl-SEM-Bildgebung für verbesserten Kontrast und Auflösung oder Rückstreuung Bildgebung für eine bessere Erkennung von Oberflächenmerkmalen wechseln. Darüber hinaus kann das Mikroskop mit einer Reihe von Zubehörteilen ausgestattet werden, um seine Leistung und Benutzerfreundlichkeit wie Probenhalter, Gaskontrollsysteme und automatisierte Probenaustauschsysteme zu verbessern. JEM 1200EX II kombiniert hohe Leistung, geringe Netzwerkkomplexität und Benutzerfreundlichkeit, um eine optimale zuverlässige Bildgebung für eine Reihe von Anwendungen in der Materialwissenschaft zu ermöglichen. Es ist mit einer Feldpistole und einem System zur Maximierung der Langzeitleistung ausgestattet. Dieses System filtert Trümmer aus der Waffenkammer heraus, verlängert die Geschützlebensdauer und liefert konstant hochwertige Bilder. Die Elektronenkanone verwendet auch einen hochauflösenden Monochromator für verbesserte Farbgenauigkeit und besseren Bildkontrast. JEM 1200 EXII kann mit einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen wie Hoch- oder Niederdruck, hohe oder niedrige Temperatur sowie mit Gas, Flüssigkeit oder festen Proben verwendet werden. Mit seinem automatisierten Probenaustauschsystem kann das Mikroskop ohne manuelle Arbeit leicht zwischen Proben wechseln. Darüber hinaus bietet das SEM optionale Softwaremöglichkeiten zur Steuerung des Mikroskops, zur Messung und Analyse von Bildern sowie zur Speicherung und Manipulation von Daten. JEOL JEM 1200EX II ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das die Bildgebung und Analyse von Objekten im mikroskopischen Maßstab ermöglicht. Mit seiner hohen Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Flexibilität kann das Mikroskop Forschern helfen, Materialien für eine Vielzahl von Anwendungen schnell und präzise zu analysieren.