Gebraucht JEOL JEM 1200EX II #9288836 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9288836
Transmission Electron Microscope (TEM)
Magnets
Compressor
Keyboard and mouse
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 1740 LCD Display, 17"
DELL Precision 340 Computer
EM-SQH10 Holder
EM-SCSH3
DATUM K-Type filament
GATAN 780 DualVision family hardware
PRINCETON INSTRUMENTS MicroMax System
ATC K3 K-Series Chiller manual
EM-SAP10
ROPER SCIENTIFIC MicroMax 780, P/N: AJ08HD
SCIENTIFIC INSTRUMENTS 5373 System
JUN-AIR OF302-4B Air compressor
ROPER SCIENTIFIC 7360 System
APPLIED THERMAL K3 Chiller
Interpower accessory power strip, P/N: 85010170
No power cable
No power supply
No remote control
No case.
JEOL JEM 1200EX II ist ein erstklassiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine leistungsstarke bildgebende Leistung für eine Vielzahl von Elektronenstrahlanwendungen liefert. Dieses revolutionäre Instrument bietet seinen Anwendern fortschrittliche Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, überlegene Geschwindigkeit und hervorragende Genauigkeit. JEOL JEM 1200 EXII ist mit seinem überlegenen Design und seiner hohen Leistung ideal für wissenschaftliche Forschung und industrielle Anwendungen. JEM 1200EX II wird unter Verwendung einer vielseitigen Elektronenkanone und einer integrierten unbeweglichen optischen Ausrüstung konstruiert, wodurch seine bildgebenden Fähigkeiten maximiert werden. Diese Elektronenkanone leitet einen fokussierten Elektronenstrahl zur Probe. Die Abbildungsergebnisse des Elektronenstrahls können direkt über das beeindruckende optische System JEM 1200 EXII beobachtet werden, das aus einem fortschrittlichen omnidirektionalen TV-Objektiv und einer Hochleistungs-CCD-Kamera besteht. Diese Kombination aus einer ausgezeichneten Elektronenkanone und einer überlegenen optischen Einheit ermöglicht es Anwendern, detaillierte SEM-Untersuchungen in einer Vielzahl von Forschungsbereichen wie Materialwissenschaft, Halbleiter, Zellbiologie und Nanotechnologie durchzuführen. JEOL JEM 1200EX II wird auch durch eine Reihe anderer Funktionen ergänzt, die eine präzise Bildgebung und Analyse ermöglichen. Dazu gehören ein interner Energiefilter aus Nickel, eine hocheffiziente Probenkammer und eine von CEOS entwickelte automatische Probenstufe. Dies ermöglicht die einfache und effektive Handhabung und Ausrichtung von Proben. Die Probenahmestufe bietet auch eine präzise Probenorientierung durch eine Dual-Motor Auto-Breite Höhenverstellmaschine, kombiniert mit einem hochpräzisen Z-Stufenmotor. JEOL JEM 1200 EXII verfügt zudem über eine Reihe von Echtzeit-Funktionen zur digitalen Signalverarbeitung und bietet Forschern leistungsstarke Analysewerkzeuge. Das Instrument ist mit mehreren Bildverarbeitungsfunktionen ausgestattet, wie digitalen Bildfiltern, Kontrasteinstellungen, Dynamikbereichsverbesserung und Auflösungsoptimierung. So können Forscher aussagekräftige Daten aus ihren Bildern extrahieren und aufwendige Analysen durchführen. JEM 1200EX II ist ein ausgezeichnetes SEM, das es Anwendern ermöglicht, fortgeschrittene Untersuchungen in einer Vielzahl von Anwendungen durchzuführen. Mit seiner überlegenen Bildgebungsleistung, leistungsstarken digitalen Signalverarbeitungsfunktionen und intuitivem Design ist dieses Instrument eine ideale Wahl für alle, die die unglaubliche Welt der Elektronenmikroskopie erkunden möchten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor