Gebraucht JEOL JEM 1200EX II #9288836 zu verkaufen

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ID: 9288836
Transmission Electron Microscope (TEM) Magnets Compressor Keyboard and mouse AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 1740 LCD Display, 17" DELL Precision 340 Computer EM-SQH10 Holder EM-SCSH3 DATUM K-Type filament GATAN 780 DualVision family hardware PRINCETON INSTRUMENTS MicroMax System ATC K3 K-Series Chiller manual EM-SAP10 ROPER SCIENTIFIC MicroMax 780, P/N: AJ08HD SCIENTIFIC INSTRUMENTS 5373 System JUN-AIR OF302-4B Air compressor ROPER SCIENTIFIC 7360 System APPLIED THERMAL K3 Chiller Interpower accessory power strip, P/N: 85010170 No power cable No power supply No remote control No case.
JEOL JEM 1200EX II ist ein erstklassiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine leistungsstarke bildgebende Leistung für eine Vielzahl von Elektronenstrahlanwendungen liefert. Dieses revolutionäre Instrument bietet seinen Anwendern fortschrittliche Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, überlegene Geschwindigkeit und hervorragende Genauigkeit. JEOL JEM 1200 EXII ist mit seinem überlegenen Design und seiner hohen Leistung ideal für wissenschaftliche Forschung und industrielle Anwendungen. JEM 1200EX II wird unter Verwendung einer vielseitigen Elektronenkanone und einer integrierten unbeweglichen optischen Ausrüstung konstruiert, wodurch seine bildgebenden Fähigkeiten maximiert werden. Diese Elektronenkanone leitet einen fokussierten Elektronenstrahl zur Probe. Die Abbildungsergebnisse des Elektronenstrahls können direkt über das beeindruckende optische System JEM 1200 EXII beobachtet werden, das aus einem fortschrittlichen omnidirektionalen TV-Objektiv und einer Hochleistungs-CCD-Kamera besteht. Diese Kombination aus einer ausgezeichneten Elektronenkanone und einer überlegenen optischen Einheit ermöglicht es Anwendern, detaillierte SEM-Untersuchungen in einer Vielzahl von Forschungsbereichen wie Materialwissenschaft, Halbleiter, Zellbiologie und Nanotechnologie durchzuführen. JEOL JEM 1200EX II wird auch durch eine Reihe anderer Funktionen ergänzt, die eine präzise Bildgebung und Analyse ermöglichen. Dazu gehören ein interner Energiefilter aus Nickel, eine hocheffiziente Probenkammer und eine von CEOS entwickelte automatische Probenstufe. Dies ermöglicht die einfache und effektive Handhabung und Ausrichtung von Proben. Die Probenahmestufe bietet auch eine präzise Probenorientierung durch eine Dual-Motor Auto-Breite Höhenverstellmaschine, kombiniert mit einem hochpräzisen Z-Stufenmotor. JEOL JEM 1200 EXII verfügt zudem über eine Reihe von Echtzeit-Funktionen zur digitalen Signalverarbeitung und bietet Forschern leistungsstarke Analysewerkzeuge. Das Instrument ist mit mehreren Bildverarbeitungsfunktionen ausgestattet, wie digitalen Bildfiltern, Kontrasteinstellungen, Dynamikbereichsverbesserung und Auflösungsoptimierung. So können Forscher aussagekräftige Daten aus ihren Bildern extrahieren und aufwendige Analysen durchführen. JEM 1200EX II ist ein ausgezeichnetes SEM, das es Anwendern ermöglicht, fortgeschrittene Untersuchungen in einer Vielzahl von Anwendungen durchzuführen. Mit seiner überlegenen Bildgebungsleistung, leistungsstarken digitalen Signalverarbeitungsfunktionen und intuitivem Design ist dieses Instrument eine ideale Wahl für alle, die die unglaubliche Welt der Elektronenmikroskopie erkunden möchten.
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