Gebraucht JEOL JEM 1200EX #293689969 zu verkaufen

JEOL JEM 1200EX ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Nanostruktur-Bildgebung mit seiner außergewöhnlichen Leistung und leistungsstarken Fähigkeiten revolutioniert hat. Dieses SEM bietet fortschrittliche Ermöglichungstechnologien wie In-situ-Materialanalyse, Fehlerkorrektur, hochpräzises Scannen und mehr für eine verbesserte Bildqualität. Es hat eine variable Druckabbildungsfähigkeit, die eine Auflösung von 1 nm oder besser für die Abbildung von breiteren Proben, insbesondere bei Sub-Mikron-Niveaus. JEM 1200EX verfügt außerdem über eine thermisch isolierte Vakuumkammer zur verbesserten Probenbeobachtung und -konservierung. JEOL JEM 1200EX verfügt über ein fortschrittliches Elektronensäulendesign, das mit seinem Aberrationskorrektor und der Off-Axis-Beleuchtung eine qualitativ hochwertige Bildauflösung von 1 nm ermöglicht. Dieses SEM ist mit dedizierten primären Elektronenkanonen-Systemen für eine effiziente Betrachtung auch bei hohen Beschleunigungsspannungen und einem Scan-Generator ausgestattet, um eine hohe Bildqualität unabhängig von der Scangeschwindigkeit zu gewährleisten. Die enge Integration dieser Komponenten sorgt für einen hochgenauen und präzisen Scanvorgang. Und seine Kaltfeld-Emissionstechnologie mit hoher Helligkeit hilft, die Lebensdauer der Elektronenkanone zu verlängern und die Detektionszeiten für gewünschte Bilder deutlich zu verbessern. Die Qualität der Bilder von JEM 1200EX wird durch seine FIB-SEM-Lithographiewerkzeuge weiter verbessert, die die Fähigkeiten des Elektronenmikroskops mit einem fokussierten Ionenstrahl (FIB) zur hochauflösenden Probenmanipulation kombinieren. Dadurch kann der Anwender extrem kleine Strukturen erstellen, modifizieren und testen und ist damit ein ideales Werkzeug für die zellbiologische und nanotechnologische Forschung. Das FIB-SEM kann auch für die nanoskalige Ätzung und Abscheidung verwendet werden, so dass Anwender die Oberfläche schnell und effektiv aus dem Bereich konventioneller Nanofabrikationstechniken modifizieren können. Ein weiterer Vorteil von JEOL JEM 1200EX ist seine flexible Architektur, die eine Fernbedienung und optimale Konfiguration des Mikroskops ermöglicht. Es ist mit einem Computer-Touch-Panel in der vorderen Tür der Säule ausgestattet, was den Zugriff des Benutzers auf Kamera- und Systemeinstellungen sowie Beispielauswahl und -scan erleichtert. Das System kann auch an verschiedene externe Geräte zur Probenbeladung, Bildgebung und Analyse angeschlossen werden. Abschließend ist JEM 1200EX ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das eine Vielzahl fortschrittlicher bildgebender Technologien und Funktionen für eine verbesserte Probenbeobachtung und -manipulation bietet. Seine 1-nm-Auflösung, Elektronenkanone mit hoher Helligkeit, fähiger Scangenerator und FIB-SEM-Funktionen sorgen für eine unglaublich genaue Bildgebung und Probenmanipulation im Nanoskalibereich und machen es zu einem Must-Have-Tool für Nanotechnologie und Zellbiologie.