Gebraucht JEOL JEM 1210 #149958 zu verkaufen
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ID: 149958
Weinlese: 1994
Transmission electron microscope
Specifications:
For high contrast imaging at low to moderate magnifications (< 100,000x)
Used to image thin (< 200nm) samples of polymers and frozen hydrated solutions (surfactants,colloids, emulsions)
Maximum operating voltage: 120kV
Capable of imaging in high magnification (> 1,000x), low magnification, and diffraction modes
Minimum dose software
Free lens control
On-line measurement capabilities
Applications:
Conventional imaging and diffraction analysis
Cryo-transfer TEM of frozen hydrated specimens
Low-dose imaging of delicate specimens
Capabilities:
Accelerating voltage range 40-120 kV
Resolution 0.20 nm lattice, 0.36 nm point
Magnification from 50x to 800,000x
Graphical user interface with mouse control of most microscope functions
Film sheet type camera (can be upgraded to a digital camera system)
Includes:
Surrounding structure/desktop
Components to assemble system
Supporting documents, software disks, manual schematics
Tool Box and Manuals
Top Cl Lens
Flex Vacuum Lines
Penning Gauge Head
Pirani Tube, Top Vacuum Manifold
Film Receiving Boxes
Vibration Isolator Block and Air Line
Main Operation Video CRT Monitor
Main Gun lift Assembly
Keyboard
EM 21010 Single Tilt
Specimen Holder
Filaments
Spare Parts for ACD Heater
Extender PCB
Water Valve
Water Flow Meters
Misc. Parts
Assorted Cables
Film ING CRT
Cables and Binoculars
Air Compressor
HT Cable and Switch
Grounding Arm and Springs
Gun Lift Arm. Anode Chamber
Gun Ceramic
ACD Tank
Braided Copper
Anode Flexible Vacuum Line
Camera Adapter
Gun Chamber
Always under OEM service contract
De-installed by OEM and stored Q4 2006
1994 vintage.
JEOL JEM 1210 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von JEOL Ltd. Dieses SEM verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um eine hochauflösende Bildgebung und eine hohe Vergrößerung zu erreichen. JEM 1210 ist in der Lage, die Elektronen auf eine Energie von 1,2 kV mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 10 kV zu beschleunigen. Dieses EM verfügt über eine 100 mm breite Probenstufe mit einem Zoomobjektivsystem, das einen Vergrößerungsbereich von 10x bis 100.000x bietet. Die Elektronenoptik von JEOL JEM 1210 bietet hervorragende Auflösung und Kontrast, mit einem Minimum an photonenerzeugtem Rauschen und einem niedrigen Pegel an Streuelektronen, die aus der FEG-Kathode resultieren. Das EM ist mit einer digitalen Bildbearbeitungsschnittstelle ausgestattet, die es ermöglicht, direkte digitale Bilder, entweder Vollbild oder Fliesen-Scan-Modus, der Probe zu erhalten, und diese Bilder können mit dedizierter Software analysiert werden. JEM 1210 ist mit einer motorisierten Stufe ausgestattet, die eine Mindestschrittweite von 8 nm hat. Dies ermöglicht bei Bedarf feine, mikroskopische Anpassungen und ermöglicht die Abbildung sehr kleiner Proben. Es verfügt auch über einen Backscatter Detektor (BSD), der Sekundärelektronen-Signal zur Verbesserung der Bildgebung und Detektion von Minutenobjekten bereitstellt, sowie einen variablen Druckdetektor, der es dem Instrument ermöglicht, bei Bedarf Proben im Niedervakuum zu fotografieren. Neben der Eignung für Routineaufgaben ist JEOL JEM 1210 auch in der Lage, komplexe Multi-Probe-Analysen durchzuführen, eine Methode zum Sammeln einer Vielzahl von Informationen über eine Probe wie Zusammensetzung, Elementkartierung, Oberflächentopographie, Textur, Korngröße und Form. Darüber hinaus hat es die Fähigkeit, eine breite Palette von Energien zu detektieren, von 4keV bis 10keV, so dass die Analyse einer breiten Palette von Partikeln, einschließlich einiger, die nicht mit anderen SEM-Methoden zu sehen. Für die Probenvorbereitung wird JEM 1210 mit zwei In-Situ Probenvorbereitungshaltern geliefert, die temperaturgeregelte Stufen sowohl zum Heizen und Kühlen als auch zum In-situ-Abscheiden von Materialien ermöglichen. Darüber hinaus bietet die hochmoderne PC-basierte Software leistungsstarke Bildmanipulationsfunktionen, einschließlich Bildkomposition, Helligkeits- und Kontraststeuerung, Partikelanalyse, Histogrammanalyse und 3D-Bildgebung. Insgesamt ist JEOL JEM 1210 ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug, das für eine Vielzahl von Anwendungen von Wissenschaftlern und Forschern eingesetzt werden kann. Es bietet eine hohe Vergrößerung, ausgezeichnete Auflösung und Kontrast sowie eine Reihe von Probenvorbereitungs- und Bildmanipulationsfunktionen.
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