Gebraucht JEOL JEM 1210 #9204269 zu verkaufen

JEOL JEM 1210 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Labor- und Industrieanwendungen. Das Gerät verfügt über eine große Vakuumkammer und bietet einen Vergrößerungsbereich von 10X bis 30,000X. Es verwendet einen bei 90 ° zur Probe konfigurierten Detektor, der eine 3D-Ansicht der Probe liefert. Darüber hinaus verfügt die Elektronenkanone über einen steuerbaren Energiebereich von 0,5 bis 30 KeV, wodurch die Bildtiefe feinjustiert werden kann. Mit einem einzigartigen Beleuchtungsspray mit hohem Winkel bietet JEM 1210 eine verbesserte Strahlstromgleichförmigkeit und eine bessere Abdeckung für größere Proben. Das Gerät enthält auch Scanfunktionen wie' Sub-Scan', mit denen der Benutzer das Bild um einen ausgewählten Faktor bis zu 30X vergrößern kann, sowie' Super-Scan', der die Bildgebungsgeschwindigkeit im Vergleich zur Standard-Scangeschwindigkeit um bis zu 200 Mal steigern kann. JEOL JEM 1210 ist mit einer Reihe von Funktionen zur Verbesserung der bildgebenden Eigenschaften verpackt. Ein dedizierter „Beschleunigungsfeldkorrektur“ -Modus kompensiert Verzerrungen, die durch Magnetfelder in der Nähe der Probe verursacht werden. Die Option „Elektronenmikroanalyse“ ermöglicht eine quantitative Analyse der Probe zusätzlich zur Bildgebung. Das Gerät ermöglicht es dem Benutzer auch, Röntgenspektren aus der Probe zu sammeln und elementare Informationen über die Probe bereitzustellen. JEM 1210 enthält eine Vielzahl von peripheren Zubehör für die Erkennung und Analyse. Das System umfasst einen erststufigen Separatordetektor, eine zweitstufige Abtasteinheit und eine digitale Abbildungsvorrichtung, die eine schnelle Leistung und hervorragende Ergebnisse ermöglicht. Die Vorrichtung umfasst auch eine Sucheinheit und eine Bühneneinheit, die eine präzise Abtastung und Manipulation der Probe ermöglicht. Darüber hinaus beinhaltet JEOL JEM 1210 kundenspezifische Software zur automatisierten Steuerung des Systems und integrierte Steuerung verschiedener Funktionen auf dem Scan. Mit seiner breiten Palette an erweiterten Funktionen bietet JEM 1210 Anwendern ein leistungsfähiges Werkzeug für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien, von Atomen und Molekülen bis hin zu Halbleitern und Nanostrukturen. Dieses vielseitige SEM ist eine effektive Lösung für eine umfassende Probenanalyse und Bildgebung.