Gebraucht JEOL JEM-1230 (HC) #9207453 zu verkaufen

JEOL JEM-1230 (HC) ist ein fortschrittliches hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das überlegene bildgebende und analytische Fähigkeiten mit einem hohen Kontrastbild und hoher Schärfentiefe bietet. Dies wird durch die Verwendung einer Hochspannungs-Elektronenkanone, eines Rasterscannertyps und einer Wiederaufbereitungseinrichtung erreicht, die hochpräzise Operationen ermöglichen. Dieses System bietet auch eine breite Palette von Bildverarbeitungsmodi und Beispielmanipulationsfunktionen mit einer integrierten Befehlskonsole. Das Gerät leitet seine leistungsstarken bildanalytischen Fähigkeiten aus seiner beeindruckenden Palette von Probenmanipulationswerkzeugen ab, darunter eine einstellbare horizontale Neigung, eine Drehprobenstufe und eine Autofokusmaschine. Die integrierte Befehlssteuerungskonsole ist auf die Reduzierung von Benutzerfehlern zugeschnitten, sodass Benutzer problemlos Parameter eingeben und mit den Systemen des Mikroskops interagieren können. Die qualitativ hochwertige Bildgebungs- und Datenanalysefähigkeit des Mikroskops kann mit dem mitgelieferten EFD-Werkzeug (Energy Filtering Detector) weiter verbessert werden, das eine Lichtelementanalyse ermöglicht und es Benutzern ermöglicht, unerwünschte Signale aus dem Bild zu entfernen. Das EFD-Asset fügt den Bildern zudem einen weiteren Kontrast und Detail hinzu. JEOL JEM-1230 (HC) unterstützt eine breite Palette von Bildgebungstechniken, von der Kontrastverbesserung bis hin zu mehrstufigen Kontrasten zur Nanoskala-Bildgebung. Mit den fortschrittlichen Kontrasttechniken erhalten Sie leistungsfähige Bild- und Datenanalysen. Mit seiner verbesserten Leistung kann JEOL JEM-1230 (HC) Ergebnisse ohne konventionelle Rasterelektronenquellen erzielen. Darüber hinaus bietet JEOL JEM-1230 (HC) eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer das Mikroskop reibungslos und präzise bedienen können. Eine umfassende Suite automatisierter Tools wurde entwickelt, um Zeit und Aufwand zu minimieren und gleichzeitig qualitativ hochwertige Ergebnisse zu maximieren. Insgesamt ist JEOL JEM-1230 (HC) ein fortschrittliches hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hervorragenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten dank seines beeindruckenden Leistungsspektrums, einschließlich seiner einstellbaren horizontalen Neigung, seiner drehbaren Probenstufe, seines Autofokusmodells und seiner EFD D-Ausrüstung. Mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche, seinen automatisierten Tools und seinen hochmodernen Bildgebungsfunktionen können Anwender von JEOL JEM-1230 (HC) erwarten, mit minimalem Aufwand leistungsfähige Bilder und Datenanalysen zu erhalten.