Gebraucht JEOL JEM 1230 #293820131 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop JEOL JEM 1230 (SEM) ist eines der führenden Rasterelektronenmikroskopsysteme für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen. JEM 1230 verwendet Sekundärelektronen (SE) für die Bildgebung und kann auch für die sekundäre Ionenmassenspektrometrie (SIMS), die Analyse elektrischer Eigenschaften wie Verarmungsspannung in Proben und die Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) verwendet werden. JEOL JEM 1230 ist mit einer Touchscreen-Benutzeroberfläche ausgestattet, die die Bedienung der Geräte vereinfacht und es dem Benutzer ermöglicht, schnell auf Bildgebungsparameter zuzugreifen und diese anzupassen. Diese Benutzeroberfläche bietet Zugriff auf die Einstellungen des Rasterelektronenmikroskops, einschließlich des Neigungswinkels der Pistole, der Objektivlinsenauswahl, der Fokussierung des Bildes, der Strahlintensität und der Beschleunigungsspannung. JEM 1230 verfügt über eine Kaltfeld-Emissionsquelle für verbesserte Bildgebung und ist in der Lage, Proben in Anwendungen mit niedrigem kV (bis zu 100V) und bis zu 30KV für anspruchsvollere Anwendungen abzubilden. JEOL JEM 1230 kann verwendet werden, um sowohl hochauflösende als auch analytische Daten zu erzeugen, so dass es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen ist. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit einem Vergrößerungsbereich von bis zu 150,000X zu erzeugen. Die JEM 1230 verfügt auch über einen in der Säule drehbaren Probenhalter, der eine rotatorische Betrachtung von Proben ermöglicht. Dieses KE bietet eine einzigartige Fähigkeit zur verbesserten Analyse der strukturellen KEs oder Geometrien der Probe. Darüber hinaus verfügt JEOL JEM 1230 über eine automatisierte Bühne und ein integriertes Ausrichtmikroskop, mit dem der Anwender Proben schnell und effizient scannen kann. JEM 1230 ist auch für gekühlte Detektoren konfiguriert, wodurch das System in einer Vielzahl von bildgebenden Anwendungen eingesetzt werden kann. JEOL JEM 1230 steuert und überwacht die Parameter des bildgebenden Prozesses auf verbesserte Bedienung und Sicherheit. Es umfasst auch Merkmale wie eine automatisierte Ausrichteinheit, eine Strahlstromsteuerungsmaschine und ein erweitertes Steuerungswerkzeug zur Überwachung und Regelung der Probentemperatur während der Bildgebung. JEM 1230 verfügt über ein hochauflösendes Bildverarbeitungsmaterial für verbesserte Bildklarheit und tonalen Bereich. Dieses Modell ermöglicht die Abbildung von Proben mit höherer Detailgenauigkeit und Genauigkeit. Das bildgebende Gerät ist speziell für kleine Partikel ausgelegt und verfügt über eine Korngrößenauflösung bis zu 1 Mikrometer. JEOL JEM 1230 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskopsystem für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen, die hochauflösende und analytische Bildgebung erfordern. Es ist die perfekte Wahl für die anspruchsvollsten bildgebenden Anwendungen, von Low-kV-Bildgebung bis hin zu Anwendungen mit höherem kV wie SIMS und STEM.