Gebraucht JEOL JEM 1230 #9115435 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 Rasterelektronenmikroskop ist ein Rasterelektronenmikroskop vom Feldemissionstyp (SEM), das in der Lage ist, bei zweimaliger Auflösungsleistung früherer SEMs hochauflösend abzubilden. Dieses Mikroskop arbeitet mit einer niedrigeren Beschleunigungsspannung als andere SEMs, was bei der Abbildung fragiler Proben von Vorteil ist. JEM 1230 ist mit einer Hochstrom-Feldemissionskanone ausgestattet. Die Pistole wurde so entwickelt, dass die an sie angelegte Beschleunigungsspannung zwischen 4 kV und 30 kV gewählt werden kann. Dies ermöglicht ein breites Spektrum an Abbildungen von Nahfeld- bis Fernfeldoperationen. JEOL JEM 1230 SEM verfügt auch über ein hochempfindliches Oberflächentemperaturkontrollsystem, mit dem die Oberflächentemperatur der Probe im Rasterscanmodus gesteuert werden kann. Auf diese Weise kann die Temperatur der Probe während der Bildgebung eingestellt werden, um empfindliche Strukturen zu erhalten. JEM 1230 ist in der Lage, von ultraleitenden bis zu isolierenden Proben zu analysieren. Auf diesem Mikroskop stehen spezielle Techniken wie Röntgenfluoreszenz für die Fernanalyse und EDS für die elementare Zusammensetzungsanalyse zur Verfügung. Das EDS-System verfügt über einen energiedispersiven Röntgendetektor für hohe Empfindlichkeit und Auflösung. Ein integrierter SSC/AALEN-Detektor ermöglicht die Punktanalyse von Proben mit Atomauflösung. Ebenfalls im Lieferumfang von JEOL JEM 1230 enthalten ist ein computergesteuerter Strahlblanker. Diese Vorrichtung schaltet den Strahl automatisch ab, wenn der Strahl auf die Probe trifft oder das Probenbild verlässt. JEM 1230 ist mit einem Dual-Kameras & Bildverarbeitungssystem ausgestattet, das eine 20 kHz Scangeschwindigkeit bietet. Dies vereint eine hochauflösende, schnelle Bildgebungsleistung und schnelle Bildaufnahme. Das Mikroskop beinhaltet auch eine Neigungsstufe, die +/-15 ° Winkelneigung zur Probenstufe ermöglicht und zur topographischen Analyse von Defekten verwendet werden kann. JEOL JEM 1230 SEM verfügt über eine vollautomatische Stufe, die eine Probenbeladung von bis zu 10 mm Durchmesser ermöglicht. Insgesamt ist das Rasterelektronenmikroskop JEM 1230 ein ideales Werkzeug für Forschungslabore und industrielle Anwendungen. Seine hochauflösende Bildgebung und sein breites Spektrum an spezialisierten Techniken machen es für eine Vielzahl von Aufgaben geeignet. Seine automatischen Funktionen machen es auch einfach zu bedienen und helfen, die qualitativ hochwertigsten Ergebnisse zu gewährleisten.