Gebraucht JEOL JEM 1230 #9208907 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Abbildung einer Vielzahl anspruchsvoller Proben entwickelt wurde. Dieses hochauflösende Premium-Mikroskop verfügt über ein großes Sichtfeld (FoV) und eine Elektronenkanone mit einem längeren Lauf für eine größere Fokustiefe während der Bildgebung. Es ist auch mit einer hochauflösenden Spalte für maximale Auflösung und Detail ausgestattet. JEM 1230 ist in einem Schrank mit Schall- und Schwingungsisolierung eingeschlossen und eignet sich somit ideal für die empfindlichste nanoskalige Bildgebung. Herzstück der JEOL JEM 1230 ist die fortschrittliche SEM-Technologie. Die Pistole erzeugt einen Elektronenstrahl, der auf die Probe fokussiert wird, um ein Abtastbild zu erzeugen. Die leistungsstarke Pistole und die Säule ermöglichen es dem Mikroskop, Bilder mit hohen Geschwindigkeiten zu erfassen und gleichzeitig Auflösungen von bis zu 0,2 nm zu erzielen. Dies macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, wie die Erforschung von Materialien, die Messung von Probeneigenschaften und die Untersuchung des Partikelverhaltens. Neben den erweiterten Imaging-Funktionen von JEM 1230 umfasst es auch eine Reihe fortschrittlicher Funktionen für verbesserte Imaging und Analyse. So ermöglichen seine Abblendstrahlstromtechnologie und eine Vielzahl von Probenmanipulationsmethoden eine bessere Abbildung selbst der kompliziertesten Proben. Darüber hinaus können Sie mit einer eingebauten Bildnahtfunktion problemlos größere Bilder Ihrer Proben erzeugen. JEOL JEM 1230 bietet auch WDS und ED-FEG Elementaranalyse und kompositorische Analysewerkzeuge an. Dadurch ist das Mikroskop in der Lage, elementare Karten von Proben bereitzustellen, die die Verteilung und Konzentration der vorhandenen Elemente zeigen. JEM 1230 ist so konstruiert, dass es zuverlässig und einfach zu bedienen ist. Das ergonomische Design ermöglicht Anwendern den schnellen und einfachen Zugriff auf alle Bereiche des Mikroskops, während die intuitive Benutzeroberfläche dem Anwender Zugriff auf eine Reihe von Bild-, Analyse- und Erfassungsfunktionen bietet. Damit ist es eine ideale Wahl für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.