Gebraucht JEOL JEM 1230 #9226959 zu verkaufen

ID: 9226959
Weinlese: 2005
Transmission electron microscope (TEM) Digitized microscope controlled by microprocessor Motorized 5-axis object stage Active matrix color monitor (TFT) Interactive control of operating parameters by mouse / Console Backup of operating parameters and control Programmable personal files Standard RS 232 C connections Guaranteed resolution: 0.20 nm in periodic system Acceleration voltage: 40 to 120 kV Plot minimum: 50 V Programmable Magnification range: 50 x 1000 x (Low MAG function) 1000 x 600,000 x (MAG function) Object tilt: +/- 45° 2005 vintage.
JEOL JEM 1230 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es bietet eine erweiterte Auflösung und Bildqualität, die in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen bildgebenden Anwendungen verwendet werden kann. Das All-in-One-Gerät verfügt über einen Quarzmonochromator sowie eine hochauflösende optische Elektronenlinse und eine ultraschnelle Abtastgeschwindigkeit. Es verfügt über eine breite Palette von Scan-Vergrößerungen mit 20X zu 1,000,000X, so dass eine detaillierte Analyse einer Vielzahl von Proben. Dieses SEM verfügt auch über ein eingebautes Mikroanalysesystem, mit dem elementare Informationen wie Sauerstoff, Kohlenstoff und Schwefel gewonnen werden können. Es hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV, die eine höhere Auflösung und Abstrahlströme ermöglicht, um Probenschäden zu reduzieren. Das anspruchsvolle Softwarepaket ermöglicht eine intuitive und einfache Bedienung des Instruments. Dazu gehören das Festlegen von Datenerfassungsparametern, die Steuerung der Scangeschwindigkeit und die Steuerung der Bildverbesserung. Die Software bietet auch Bildbearbeitungs- und Bildanalysefunktionen sowie 3D-Bildmapping, die für detaillierte Analysen verwendet werden können. JEM 1230 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug, das hochauflösende Bildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen wie Nanotechnologie und Materialwissenschaft bietet. Es ist mit einem ausgeklügelten Fadendetektor ausgestattet, der eine schnelle Bilderfassung für halbautomatisierte Systeme, wie sie in der Submikron-Bildgebung verwendet werden, ermöglicht. Zusätzlich enthält das SEM eine Digitalkamera zur direkten Beobachtung mit einem Okular. Insgesamt ist JEOL JEM 1230 ein fortschrittliches und hochzuverlässiges SEM mit einer ausgezeichneten Bildqualität. Es bietet eine ausgezeichnete Auflösung und die Fähigkeit, detaillierte Analysen einer Vielzahl von Proben bereitzustellen, sowie eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es einfach macht, das Instrument zu bedienen und zu steuern. Die integrierte analytische Einheit und die 3D-Bildabbildungsfunktionen ermöglichen es dem Bediener, detaillierte Einblicke in die Eigenschaften einer Probe zu erhalten. Die Maschine ist ideal für eine Reihe von Anwendungen und bietet unschätzbare Unterstützung für Industrie und Forschung.
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