Gebraucht JEOL JEM 1230 #9245614 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Proben. Mit einem Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) und einem ultrahochauflösenden MINT-Detektor bietet das Gerät hervorragende Leistung für eine Vielzahl von Anwendungen, wie die mikrostrukturale Bewertung von Materialien, die Fehleranalyse, die Raummaterialwissenschaft und die Materialbewertung. JEM 1230 bietet eine überlegene Auflösung von bis zu 5 nm unter optimalen Bedingungen. Dies ermöglicht die Abbildung feiner Details, die dazu beitragen können, die Zusammensetzung, Struktur und Morphologie einer Probe zu charakterisieren. Das Mikroskop verwendet eine umgekehrte 180 ° Kippgeometrie, die sicherstellt, dass die Probe von oben nach unten abgebildet wird. Dies bietet den Vorteil, große Proben effizient und ohne die Notwendigkeit einer häufigen Neupositionierung zu charakterisieren. JEOL JEM 1230 beschäftigt eine Schottky Field Emission Gun (FEG) mit hoher Helligkeit, langer Lebensdauer und niedrigen Betriebskosten. Dieses hochmoderne Design minimiert die Aufladung nichtleitender Proben und ermöglicht einen hervorragenden Kontrast des Probenbildes. Außerdem besitzt das Mikroskop eine Beschleunigungsspannung von bis zu 135 kV für größere Schärfentiefe und höhere Auflösung. Um eine hochpräzise Analyse und konsistente Ergebnisse zu gewährleisten, werden verschiedene automatisierte Funktionen integriert. Dazu gehören die automatisierte Optimierung des Bildkontrasts, ein integriertes Treuhandsystem und eine digitale Bildverbesserung. Ferner weist das Instrument eine motorisierte Be- und Positionierstufe sowie ein fortgeschrittenes Filtersystem auf, das die Charakterisierung von Partikeln bis auf 1 nm ermöglicht. oder JEM 1230 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit überlegener Auflösung und einem robusten Feature-Set für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Das Gerät verfügt über eine Schottky Field Emission Gun (FEG) mit hoher Helligkeit und niedrigen Betriebskosten, eine umgekehrte 180 ° Kippgeometrie, die eine effiziente Abbildung großer Proben gewährleistet, und eine Beschleunigungsspannung von bis zu 135 kV für eine verbesserte Bildqualität. Zur präzisen Probenanalyse und Charakterisierung integriert JEOL JEM 1230 ein Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) und einen ultrahochauflösenden MINT-Detektor. Darüber hinaus machen mehrere automatisierte Funktionen, wie automatisierte Optimierung des Bildkontrasts und automatisierte Optimierungen der Partikelgröße, die Analyse von Proben einfacher und schneller. Diese Eigenschaften, kombiniert mit einer motorisierten Bühne und einer digitalen Live-Bildverbesserung, machen JEM 1230 zu einer ausgezeichneten Wahl für die mikrostrukturelle Bewertung von Materialien, Fehleranalyse, Raummaterialwissenschaft und Materialbewertung.