Gebraucht JEOL JEM 1230 #9248904 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit der neuesten bildgebenden Technologie entwickelt wurde. Sein ergonomisches Design verfügt über eine große Neigungsreichweite, eine große motorisierte Bühne und eine breite Kammeroption für mehr Flexibilität. JEM 1230 ist in der Lage Proben bis 250 x 250 mm zu scannen und bietet einen Vergrößerungsbereich von bis zu 250.000x. Dies ermöglicht die Beobachtung der Oberflächentopologie, des lokalen differentiellen Phasenkontrasts und der Bildsektion. JEOL JEM 1230 ist ein Niedervakuum-SEM mit einer ölfreien Membranpumpe, die einen minimalen Teilnehmer für die Wartung erfordert und letztlich seine Lebensdauer verlängert. Es hat auch ein integriertes Gasinjektorsystem für die Einführung von Sekundärelektronen, die bei der Erkennung von Verbesserungen und Eigenschaften mit einer viel schnelleren Rate helfen. JEM 1230 verfügt auch über eine breite Palette von Detektoren, einschließlich eines variablen Druckdetektors, eines sekundären Elektronendetektors und eines Rückstreuelektronendetektors, jeder entworfen, um verschiedene Elemente einer Probe zu erfassen. Der variable Druckdetektor ist zur Verbesserung der Oberflächenempfindlichkeit ausgelegt und kann zwischen 1Pa ~ 15Pa umschalten. Darüber hinaus ist der Sekundärelektronendetektor in der Lage, eine Bildbildung auszuwählen, die zur Beobachtung der Probentopologie bei scheinbarer Dicke und scheinbarer Rauheit verwendet werden kann. Der Backscatter-Detektor ist entworfen, um die Form einer Probenoberfläche zu erfassen und verschiedene Merkmale bei jeder gegebenen Vergrößerung zu erfassen. JEOL JEM 1230 ist ferner mit einem Multimode-Digitalkamerasystem ausgestattet, das in der Lage ist, mehrere Bilder von Proben zu erfassen und diese dann für überlegene Klarheit und Details zusammenzunähen. Der Sem ermöglicht schnelle Bilderfassung und flexible EDX (Energy dispersive X-ray) Messungen für bis zu vier unabhängige Detektoren. Der Betrieb des Systems ist fast mühelos mit einer sehr langlebigen Benutzeroberfläche in der Lage, nahtlose Daten zu liefern, eine Analyse, Software-Kompatibilität und Remote-Betrieb. Darüber hinaus eignet sich JEM 1230 perfekt für industrielle Inspektions- und Forschungsanwendungen und bietet eine hochauflösende Abbildung einer Vielzahl von Materialien. Die modernste Bildgebungstechnologie dieses SEM bietet beispiellose Flexibilität und Genauigkeit und leitet eine neue Ära der SPM-Leistung ein.