Gebraucht JEOL JEM 1230 #9390890 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das es dem Anwender ermöglicht, hochauflösende bildgebende Funktionen mit einer Vielzahl von Funktionen zu haben. Dieses Mikroskop ist in der Lage, eine große Anzahl von analytischen Techniken bereitzustellen, die von der Messung von Mikrostrukturen und Partikeln bis zur elementaren Verteilungskarte reichen. Seine erweiterten Funktionen umfassen hochauflösende Bildgebung und Analyse von ungleichmäßigen Materialien und Objekten. Zu den Grundkomponenten der JEM 1230 gehören eine flüssig-stickstoffgekühlte Kristall-Kathoden-Elektronenkanone, eine Hochvakuumkammer, ein Scan-Generator und ein hochauflösender Monitor. Die Kristall-Kathoden-Elektronenkanone dient zur Herstellung der Elektronen, die der Probe zugeführt werden. Die Hochvakuumkammer hilft, das gesamte System frei von Streuelektronen zu halten, wodurch die Bildgebung und Analyse in einer sauberen Umgebung durchgeführt werden kann. Der Abtastgenerator dient zur Steuerung und Regelung des Elektronenstrahls, wodurch der Benutzer die Vergrößerungs- und Abbildungsparameter einstellen kann. Der hochauflösende Monitor zeigt die Ergebnisse in übersichtlichen und sehr detaillierten Bildern an. JEOL JEM 1230 Auflösungen können bis zu einem sehr hohen 5 nm für die Bildgebung und 20 nm für die Analyse erreichen. Diese hohe Auflösung ermöglicht es Benutzern, mikroskopische Funktionen in einem Niveau von Details zu sehen, die nie zuvor gesehen wurden. Darüber hinaus ist JEM 1230 in der Lage, eine Vielzahl verschiedener Proben zu analysieren. Dazu gehören Proben, die fest, flüssig oder sogar Gas sind. Das Mikroskop ist auch in der Lage, Materialien in allen Montagestufen zu analysieren, z.B. in unterschiedlichen Dicken, Formen und Größen. JEOL JEM 1230 wird auch mit einer Vielzahl von Softwarepaketen geliefert, um Anwendern bei der Analyse ihrer Probe zu helfen. Diese Pakete reichen von Automatisierungstools bis hin zu Diagrammplot- und Datenanalyseprogrammen. Die Datenanalyse-Tools ermöglichen Benutzern einen besseren Einblick in die Struktur der Probe, die sie analysieren. Darüber hinaus ist die Benutzeroberfläche sehr intuitiv und erleichtert es Wissenschaftlern, die Software schnell zu lernen und zu nutzen. Diese Eigenschaften kombiniert mit seiner Benutzerfreundlichkeit und Vielseitigkeit machen JEM 1230 zu einem unverzichtbaren Werkzeug für jeden Benutzer eines Rasterelektronenmikroskops. JEOL JEM 1230 ist mit seinem breiten Spektrum an Fähigkeiten und Anwendungen in der Lage, Wissenschaftlern zu helfen, Antworten auf ihre komplexesten Fragen zu finden.