Gebraucht JEOL JEM 1230 #9395151 zu verkaufen

JEOL JEM 1230 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur bildgebenden und chemischen Analyse verwendet wird. JEM 1230 besteht aus einer Anzahl von Komponenten, einschließlich einer Elektronenquelle, einem Elektronendeflektor, einem Elektronendetektor und einem Probenhalter. Die Elektronenquelle ist eine thermionische Emissionsquelle und erzeugt einen Elektronenstrahl, der dann zu einem fokussierten Strahl kollimiert wird. JEOL JEM 1230 verfügt über eine hochstabile Elektronenquelle mit einem Filamentoxidationsschutzsystem, das eine hohe Stabilität und eine lange Filamentlebensdauer gewährleistet. Der Elektronendeflektor dient zur Abtastung des Elektronenstrahls über die Probenoberfläche. Sie besteht aus zwei Teilsystemen, einer Ablenkeinheit und einem Abtastsystem. Die Ablenkeinheit lenkt den Elektronenstrahl zur Abdeckung der gesamten Probenoberfläche ab und das Abtastsystem bewegt die Probenstufe relativ zum Elektronenstrahl sowohl in X- als auch in Y-Richtung. Der Elektronendetektor dient zum Nachweis der von der Probenoberfläche emittierten Sekundärelektronen. Je nach Anwendung und Probe kann der Detektor individuell konfiguriert werden, um topographische oder elementare Analysebilder bereitzustellen. Außerdem kann der Detektor mit einer Digitalkamera für verbesserte Auflösung und Kontrast ausgestattet werden. Der Probenhalter ist dafür ausgelegt, die Probe sicher in der SEM-Vakuumkammer zu halten. Je nach Anwendungsbedarf können die Probenhalter für Makro- oder Mikroanwendungen sowie Kryoanwendungen konfiguriert werden. Insgesamt ist JEM 1230 ein Hochleistungs-SEM, das für hochauflösende und kontrastreiche bildgebende und chemische Analysen entwickelt wurde. Mit seiner stabilen Elektronenquelle, seinen Hochleistungs-Ablenk- und Detektorsystemen und kompatiblen Probenhaltern kann JEOL JEM 1230 wertvolle Einblicke in die Probenzusammensetzung und -struktur geben.