Gebraucht JEOL JEM 1400 Plus #9238369 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9238369
Weinlese: 2014
Transmission Electron Microscope (TEM)
EM-1400 (HC-DC)
EM-12000BU Main body
EM-10020 (CLPP1) CL Pole piece
EM-10131HC12 High contrast pole piece
EM-00010LD Lens data
EM11210SQCH Sample quick change holder
EM-13070 (DVU12) DP Vacuum exhaust unit
EM-37108PCU Computer unit
EM-17211TMON23 Touch main monitor
EM-10230AOA Objective lens aperture
EM-14800RUBY 8-Megapixel digital CCD camera unit
EM-CP10 Air compressor
EM-14100BINOC Binoculars
EM-01070SQH Sample holder
EM-48051D Water chiller
Power: 120 kV
2014 vintage.
JEOL JEM 1400 Plus ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) zur Bildgebung und Mikroanalyse. Es verwendet eine Kaltfeld-Emissionskanone, die hohe Helligkeit und Abblendstrom liefert, was zu hochauflösender Abbildung mit klaren, scharfen Bildern führt. Das Mikroskop hat eine beschleunigende Spannung von 5-30kV, die zur Auflösung beiträgt und die Bestimmung kristalliner Strukturen und Phasenkomponenten verschiedener Materialien ermöglicht. Ein In-Linsen-Detektor kann auch verwendet werden, um bessere Probeninformationen mit weniger Strahlschäden zu erfassen. Die integrierte Strahlverzögerung ermöglicht eine sanfte Probeninteraktion, die eine hochauflösende SE1-Bildgebung und ultrahochauflösende Bildgebungsergebnisse ermöglicht. Der integrierte In-Linsen-Detektor ermöglicht eine schnelle und präzise automatische Fokussierung des Mikroskops und ist damit perfekt für die 3D-Topographie-Bildgebung geeignet. Die hohe Extraktionsspannung gibt ihm auch eine große Fokustiefe, wodurch sie für die Abbildung großer, gekrümmter Oberflächen geeignet ist. Neben der Bildgebung ist JEOL JEM 1400PLUS auch mit verschiedenen Analysefähigkeiten ausgestattet. Es verfügt über Energy-dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) Detektoren, die verwendet werden können, um elementare Verteilung zu erhalten, sowie die Kristallinformation des untersuchten Materials. Zusätzlich können auch sekundäre und rückgestreute Elektronenbilder/Detektor zur Beobachtung der Oberflächenstruktur der Probe verwendet werden. JEM-1400PLUS ist vielseitig, kostengünstig und einfach zu bedienen mit einer hochauflösenden Leistung für alle Anwendungen. Es ist ein ideales Werkzeug für Forschungsinstitute und Industrielabore auf der Suche nach einem Rasterelektronenmikroskop mit fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten.
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