Gebraucht JEOL JEM 1400 Plus #9304360 zu verkaufen

JEOL JEM 1400 Plus ist ein analytisches Rasterelektronenmikroskopie (SEM) -Instrument zur hochauflösenden Bildgebung, Elementaranalyse und zur präzisen Quantifizierung der Materialmorphologie. Mit seiner großen Tiefenschärfe, seinen überlegenen Bildgebungsfunktionen und seinen fortschrittlichen automatisierten Funktionen bietet dieses Instrument eine Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Disziplinen. JEOL JEM 1400PLUS umfasst sowohl variablen Druck als auch variablen Druck (ESEM) -Modi, die dem Benutzer die Vielseitigkeit bieten, Proben abzubilden, ohne chemische Änderungen oder Vakuumabscheidung zu erfordern. Das System enthält eine LaB 6 Filament Elektronenkanone, um einen stabilen 5,0 kV Elektronenstrahl mit einer Punktgröße unter 3 Nanometer zu erzeugen. Modernste automatisierte Funktionen zur Positionierung, Fokussierung und Stigmatisierung machen die Bedienung JEM-1400PLUS schnell und einfach. JEM 1400PLUS verfügt über eine spezielle gelenkige Spalte, die es der Beispielstufe ermöglicht, sich innerhalb des Sichtfelds zu bewegen und größere Muster als das in seinem Sichtfeld enthaltene anzuzeigen. Diese Funktion macht die Probenbildgebung effizienter, insbesondere wenn mehrere Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungen aufgenommen werden müssen. Die Bildauflösung wird durch die Aufnahme eines chromatischen Aberrationskorrektors weiter erhöht, der Verzerrungen und Bildunschärfen durch chromatische Aberration minimiert. JEOL JEM-1400PLUS bietet eine Reihe von Detektionssystemen, um dem Benutzer Informationen über Beispielfunktionen zur Verfügung zu stellen. Dazu gehört ein halbautomatisches energiedispersives Röntgenspektroskopiesystem (EDS), das hochauflösende Energiedispersionsspektren für qualitative Analysen und Zusammensetzungsinformationen der Probe erzeugt. Der EBSD-Detektor im 1400 Plus wurde speziell entwickelt, um dem Anwender Kristallorientierungsmapping für kristalline und nanokristalline Materialien bereitzustellen. Der Single Point Analysis Mode (SPAM) von JEM 1400 Plus ermöglicht es Benutzern, mehrere analytische Karten aus einem einzigen Bereich mit automatischen Rekonfigurationen des Strahls basierend auf den vorgegebenen Spezifikationen der Benutzer zu sammeln. Schließlich kann mit dem integrierten Kathodolumineszenzdetektor eine Vielzahl von Karten wie chemische Zusammensetzung und Polarisationskarten automatisch erzeugt werden. Am oberen Ende des Elektronenmikroskopiefeldes ist JEOL JEM 1400 Plus ein leistungsfähiges Analysewerkzeug mit seinen unübertroffenen Bildgebungs-, Elementaranalyse- und morphologischen Quantifizierungsfähigkeiten.