Gebraucht JEOL JEM 1400 #9199923 zu verkaufen

JEOL JEM 1400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem integrierten energiedispersiven Röntgenanalysator (EDS). Dies ist ein unschätzbares Werkzeug für die analytische und materialwissenschaftliche Forschung, das die Visualisierung und Analyse von Mikrostrukturen auf Sub-Mikron-Detailebenen ermöglicht. Es verfügt über eine sehr stabile und präzise automatisierte Steuerung, sowie hervorragende analytische Fähigkeiten. Eine Vielzahl von SEM-Modi sind verfügbar, einschließlich Niedervakuum, variabler Druck für In-situ-Beobachtungen und Cryo-SEM für die Untersuchung gefrorener hydratisierter Proben. Das Instrument umfasst auch eine automatisierte Stufe zur Positionierung von Proben und eine Automatisierungsschnittstelle zum Be-/Entladen von Proben, Probe-zu-Probe-Transfers und zum Betrieb durch Remote-Software wie Scanning Ion Microscopy (SIM) oder Secondary Electron Autoportrait (SEAP). Der Betriebsspannungsbereich von JEM 1400 ist von 0.5kV bis 30kV, und es hat eine Auflösung von 2azim (Winkel). Seine seitlichen und vertikalen Auflösungsfunktionen sind 0,7 nm bei 1kV und 0,6 nm bei 30kV. Es ist auch mit einem In-Column-Energiefilter ausgestattet, wodurch es verbesserte Energiefilterfähigkeit für weniger Störungen bei höheren Spannungen gibt. JEOL JEM 1400 enthält auch Funktionen wie Elektronenstrahl-Stigmen, digitale Signalverarbeitung, automatische Belichtungsprotokollfähigkeit, mehrfache Probenübertragung und ein verbessertes Bildverarbeitungssystem. Das Detektorarray ist hochempfindlich und enthält sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronendetektoren. Der Sekundärelektronendetektor weist ein großes Sichtfeld auf, das eine schnellere Abbildung bei größeren Vergrößerungen ermöglicht. Für automatisierte Messungen umfasst JEM 1400 eine Reihe von Messsoftware, um automatisierte Flächen- und lineare Messungen über mehrere Achsen zu ermöglichen, sowie eine automatische elementare Kompositionsanalyse mit dem integrierten EDS. Die gleichen Automatisierungsfunktionen können für die Erfassung von sekundären und rückgestreuten Elektronenelementen und kompositorischen Karten verwendet werden, so dass es ideal für eine gezielte Analyse ist. Insgesamt ist JEOL JEM 1400 ein unglaublich vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Vielzahl von analytischen und messtechnischen Anwendungen für Mikro- und Nanostrukturen eignet. Seine effizienten Automatisierungsfunktionen, Präzisionssteuerungssysteme und die Fähigkeit, verschiedene Proben zu erfassen und zu analysieren, machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug auf dem Gebiet der Mater Science für diejenigen, die nach hochentwickelten Fähigkeiten suchen.