Gebraucht JEOL JEM 2000EX MKII #9096281 zu verkaufen

JEOL JEM 2000EX MKII ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende bildgebende Funktionen mit einer Vielzahl von Umweltfunktionen kombiniert. Es kann Proben in Luft analysieren, einschließlich solcher mit niedrigem Vakuumbedarf, Flüssigkeiten und Temperaturen von -196 ° C bis 500 ° C. Es hat einen Umlenkwinkel von +/- 90 ° und eine Punktgröße von 5 nm - was eine breite Palette von Anforderungen an die Probenanalyse ermöglicht. Sein Sichtfeld reicht von 2,2 - 1000nm abhängig von der Strahlstromeinstellung. JEM 2000EX MKII verfügt auch über eine Elektronenkanone, die hervorragende Stabilität und verbesserte Leistung bietet, eine einzigartige Inselsäule mit niedrigem Vibrationsbetrieb, eine 4-Magnet-Objektivlinse mit hoher Stabilität und eine Nanoskala-Analyseausrüstung. Der modulare Aufbau umfasst ein chromatisches Objektiv-Korrektursystem, eine Vakuumkammer und eine digitale Schnittstelle. Die Nanoskala-Analyseeinheit bietet Auflösung und Pixelgröße, die scharfe, brillante Bilder mit hervorragendem Kontrast erzeugen. Die Super High Resolution Detector Machine bietet ultrahochauflösende Bilder mit bis zu 1 nm Auflösung. Es enthält auch einen in-column Sekundärelektronendetektor, ein Festkörperdetektorwerkzeug und einen rückgestreuten Elektronendetektor zur Abbildung auf beliebige Probengrößen von Ionen bis zu großen Strukturen. JEOL JEM 2000EX MKII wird mit dem Celscan Pro-Betriebsmittel betrieben, mit dem der Benutzer schnell und einfach auf Daten zugreifen, sie speichern und analysieren kann. Dieses Betriebsmodell bietet automatisierte Scan- und Datenerfassung, erweiterte Bildverarbeitungs- und Bildmanipulationsfunktionen sowie erweiterte Kalibrierfunktionen. Die mehrfache dedizierte Anwendungssoftware bietet Bildaufnahme-, Bildverarbeitungs- und Analysetools, die sich perfekt für jede Art von Probenanalyse eignen. JEM 2000EX MKII wurde entwickelt, um maximale Benutzerfreundlichkeit zu bieten, so dass sich der Benutzer auf die wissenschaftlichen Ergebnisse konzentrieren kann. Abschließend ist JEOL JEM 2000EX MKII ein fortschrittliches und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop und ist ideal für jede Anwendung, die eine hohe Auflösung, mehrere Umweltfunktionen und einen robusten Betrieb erfordert. Seine Vielseitigkeit und Vielseitigkeit Feature-Set machen es eine große Auswahl für eine breite Palette von Labor- und Forschungsanwendungen.