Gebraucht JEOL JEM 2000FX II #293636585 zu verkaufen

JEOL JEM 2000FX II ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Forschung in den Bereichen nanostrukturierte Materialien, biomedizinische Technik und Materialwissenschaft. Es bietet Auflösung nahe der atomaren Skala und hilft, die Mikrostruktur von kristallinen und nicht-kristallinen Materialien zu visualisieren. Es verfügt über eine einzigartige Konfiguration, die automatisierte Beobachtungsfunktionen in Kombination mit einem SE-Detektor (SE) und einer computergesteuerten Probenstufe unterstützt. Der In-Linsen-SE-Detektor ermöglicht eine geringe Vergrößerung und Bildgebung mit der höchsten Auflösung von 1,7 nm (bei einer 20 kV Beschleunigungsspannung). Dieser Detektor ermöglicht auch die Abbildung von nichtleitenden Materialien. JEM 2000FX II hat eine Gesamtvergrößerung von 3.000 - 400.000 X und nutzt eine 120-kV-Feldemissionskanone mit hoher Leistung und einem Monochromator, der ein Langstreckenobjektiv bietet. Die Probenstufe kann motorisiert werden, um eine automatisierte großflächige Abbildung von Proben zu ermöglichen. Mit automatisiertem Stage Mapping kann der gleiche Bereich einer Probe mehrfach gescannt werden, um ein Bild höherer Auflösung zu erzeugen. SEM Control Software ist im Lieferumfang enthalten, um die manuelle Bedienung zu vereinfachen. JEOL JEM 2000FX II ist ein intuitives und benutzerfreundliches System zur Bildgebung und Oberflächenanalyse. Die Visualisierung von Bildern kann zur weiteren Analyse und Verbesserung der Bildqualität in digitale Formate umgewandelt werden. Erweiterte Bildgebungsoptionen umfassen helles Feld, dunkles Feld, falsche Farbe, polarisiertes Licht und 3D-Bildgebung. Für eine optimale Bildgebung werden mehrere Akquisitionsmodi unterstützt, wie Hochgeschwindigkeits-, Großflächen- und Single-Frame-Akquisitionsmodi. Das Mikroskop ist auch mit automatisierten Geräten für die EDX- und XRF-Analyse ausgestattet. Dies ermöglicht die chemische und elementare Analyse von Proben durch Detektion elektromagnetischer Strahlung aus Produkten von Wechselwirkungen zwischen Probe und Strahl. Darüber hinaus unterstützt der Low Vacuum Imaging Modus all diese Analyseoperationen und minimiert gleichzeitig die negativen Auswirkungen von Ionenstreuungen und Interferenzmustern. Um eine einfache Bedienung zu gewährleisten, ist JEM 2000FX II mit einer einzigen Mikroskopsäule und dem All-in-One-Detektor mit sechs Detektoren ausgestattet, die in einer Einheit kombiniert oder separat montiert werden können. Es hat ein ergonomisches Design, mit einer PC-gesteuerten grafischen Benutzeroberfläche, die von einem extern montierten PC angetrieben wird. Mit einem intuitiven Workflow und einem bedienungsfreundlichen Design kann es zur Steigerung der Forschungsproduktivität beitragen.