Gebraucht JEOL JEM 2000FX #9075094 zu verkaufen

JEOL JEM 2000FX ist eine Art Rasterelektronenmikroskopie (SEM) für vielseitige Bildgebung. Es ist eine thermionische Feldemission SEM in der Lage, sowohl hochauflösende Bilder und Analyse der Oberflächentopographie, Zusammensetzung und Morphologie zu erreichen. Auch die Röntgenmikroanalyse, die zur Bestimmung der elementaren Zusammensetzung verwendet wird, kann mit diesem Instrument leicht durchgeführt werden. Das optische System von JEOL 2000FX verfügt über eine hochhellige Feldemissionspistole mit einer super langen Arbeitsstreckenobjektiv für verbesserten Betrieb. Die objektive Linse und Säulenpistole werden mit dem computergesteuerten Hochgeschwindigkeitsautoanordnungssystem für die verbesserte Musterfokussierung ausgestattet. Dies sorgt für ein präzises Bild und eine optimale Probenbeobachtung. Die maximale beschleunigte Spannung von JEOL 2000FX beträgt 160 kV, bei einem Minimum von 2 kV. Das Gerät ist auch in der Lage, variablen Druck/variablen Strombetrieb zu betreiben und kann zwischen 0-600 Pa.JEOL 2000FX ist mit einer schwingungsarmen Stufe ausgestattet, die für Proben kritisch ist, die leicht durch Vibrationen beschädigt werden können. Die Steuerstufenplattform ist auch in der Lage, feine und umfassende Anpassungen, so dass das Mikroskop ideal für eine Vielzahl von Probenorientierungen. Die Spaltenpistole von JEOL 2000FX ist außerdem mit einem computergesteuerten Rückstreudetektor ausgestattet, der Bilder und Analysen von rückgestreuten Elektronen ermöglicht. Die Schnittstellen von JEOL 2000FX sind mit einem vernetzten Computer verbunden und ermöglichen die Steuerung und Datenerfassung mittels dedizierter Software. Daten können einfach analysiert und archiviert werden, was leistungsstarke Bildverarbeitungsfunktionen bietet. JEOL 2000FX ist ein sehr vielseitiges SEM, ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in den Bereichen Werkstoffwissenschaft, Industrie und Biologie.