Gebraucht JEOL JEM 2000FX #9265721 zu verkaufen

JEOL JEM 2000FX ist ein feldemissionsartiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bildgebung und Analysefähigkeiten entwickelt wurde. Die leistungsstarke Leistung von JEM 2000FX hat es zu einem der beliebtesten und zuverlässigsten Rasterelektronenmikroskope gemacht. JEOL JEM 2000FX verfügt über einen erhöhten Vergrößerungsbereich bis zu 1,2 Millionen Mal und eine effektive Vergrößerung von 1000X, so dass Benutzer Proben auf einem sehr hohen Detaillierungsgrad betrachten können. Dieses Mikroskop wird auch mit einer automatisierten Stigmator-Ausrüstung geliefert, mit der Benutzer die Position der Elektronenkanone sowie die Objektivöffnung schnell und genau einstellen können. JEM 2000FX verfügt über eine Reihe von Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung und Spektroskopie, quellenwählter Sekundärelektronenbildgebung, ringförmiger Dunkelfeldbildgebung und Röntgenspektrometrie. Das Mikroskop ist mit einem Energiefiltersystem ausgestattet, das verwendet werden kann, um ankommende Elektronen effektiv abzulehnen und gleichzeitig energiereiche Elektronen durchzulassen. Auf diese Weise können Anwender eine Vielzahl von Analysen durchführen, wie chemische und elementare Kartierung, Phasenanalyse, Dehnungsmessung und Spektroskopie. Darüber hinaus ist JEOL JEM 2000FX auch mit einer fortschrittlichen elektronenoptischen Einheit ausgestattet, die eine Feldemissionskanone und zwei Multiapertur-Kondensatorlinsen umfasst. Diese Maschine reduziert deutlich chromatische Aberration und elektrische Verzerrungen und bietet Bilder mit hervorragender Auflösung und Kontrast. Das Mikroskop umfasst auch ein Zwei-Elektronen-Pistole-Werkzeug, das eine simulatanische Abbildung und Analyse von zwei verschiedenen Bereichen mit zwei verschiedenen Pistolen-Positionen ermöglicht. JEM 2000FX ist auch einfach zu bedienen, mit einer voll integrierten Benutzeroberfläche mit Touchscreen-Steuerung und Datenhandhabungsfunktionen. Dies macht es Anwendern einfach, schnell und effizient SEM-Bilder zu erfassen, die Daten zu analysieren und für zukünftige Anwendungen zu verarbeiten. Das Mikroskop verfügt über eine automatisierte Probenhalterung, die es Anwendern ermöglicht, Proben schnell und einfach zu laden und zu analysieren. Insgesamt ist JEOL JEM 2000FX ein leistungsstarkes und zuverlässiges Tool, das Anwendern ein Höchstmaß an Bildverarbeitung sowie eine breite Palette an Analysefunktionen bietet. Dieses fortschrittliche Rasterelektronenmikroskop ist ideal für Forscher, die höchste Auflösung und Genauigkeit erreichen möchten.