Gebraucht JEOL JEM 200CX #293751172 zu verkaufen

JEOL JEM 200CX ist ein ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Probenanalyse, Bildgebung und Inspektion geeignet ist. Das 200CX verfügt über eine fortschrittliche Hämatit FE-SEM Elektronensäule und Analysator Typ Ultra-High-Resolution (UHR) Mikroskop-Bühne, so dass Benutzer Bilder mit einer maximalen lateralen Auflösung von etwa 0,3 Nanometer und einer 0,8 Nanometer Transferauflösung zu erfassen. Das 200CX bietet darüber hinaus eine hervorragende Vakuumstabilität und Magnetfeldemissionsfähigkeit, die das Vakuumniveau bis zu 24 Stunden aufrechterhalten kann. Der niedrige Leistungsbereich von JEOL JEM 200 CX ist an seiner breitesten Öffnung 2kV und 20nA und sein hoher Leistungsbereich ist in 160kV und 20nA am breitesten. Höhere Vergrößerungen können mit bis zu 500kV und 40nA erreicht werden. Das 200CX bietet Anwendern einen hohen Vakuumdruck von 2,6x10-6 Torr und bietet eine hervorragende Bildstabilität und Kontrast. Das 200CX verfügt über ein integriertes Oxford Instruments EDX-System, mit dem der Benutzer Elementaranalysen an Proben durchführen kann. Das 200CX verfügt sowohl über einen vierachsigen Joystick als auch über eine automatisierte X-Y-Bühne, so dass der Benutzer die betreffende Probe schnell und genau positionieren kann. Eine fortschrittliche ultra-hochauflösende SEM-Stufe wurde integriert, die eine hervorragende Auflösung von 0,3 Nanometern liefert, während das eingebaute Ablenkungssteuerungssystem die Einstellung des Bildes wesentlich schärfer ermöglicht. Das 200CX verfügt auch über einen externen polierten Probenhalter, um Proben zu platzieren, die inspiziert werden, so dass die Probenoberflächen und andere feine Details direkt beobachtet werden können. Anwender können auch von 3D-Bildgebung und großem Sichtfeld profitieren, da die 200CX Hi-rez-Scanfähigkeit der Probenoberfläche ausreicht. Darüber hinaus verfügt das 200CX über eine manuelle Fokussteuerung und eine automatisierte Probenverschiebungssteuerung, die im gleichen Softwarepaket wie das Mikroskop eingerichtet werden kann, so dass Benutzer den Fokus steuern und Proben auf der Bühne genauer lokalisieren und analysieren können. Abschließend ist JEM 200CX ein ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, das für die Probenanalyse, Bildgebung und Inspektion geeignet ist. Das 200CX bietet hervorragende Leistung und Eigenschaften wie einen hohen Vakuumdruck von 2,6x10-6 Torr, ein Oxford Instruments EDX-System zur Elementaranalyse, einen integrierten vierachsigen Joystick und eine automatisierte X-Y-Stufensteuerung, einen externen polierten Probenhalter und eine maximale seitliche Auflösung von 0,3 Nanometern. Das macht die 200CX zu einer ausgezeichneten Wahl für Forscher und Wissenschaftler, die ein sehr vielseitiges und zuverlässiges SEM suchen.