Gebraucht JEOL JEM 200CX #9243562 zu verkaufen

JEOL JEM 200CX Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes, analytisches Instrument zur Untersuchung von Materialien und biologischen Proben im Nanoskalibereich. Diese vielseitige Ausrüstung verfügt über eine hohe Stabilität, Niederspannung, In-Linsen-Feld Emission Elektronenquelle, die Analysen von weichen Materialien und dicken Proben in hoher Auflösung ermöglicht. Es verfügt über eine Kammergröße von 180 mm Durchmesser und eine vierachsige Navigationsstruktur, die ein Strahlscannen über ein umfangreiches Sichtfeld ermöglicht. Der Sekundärelektronendetektor (SE) des 200CX ermöglicht eine kontrastarme Analyse der Oberflächenmerkmale der Probe, während ein rückgestreuter Elektronendetektor (BSE) für eine höhere Kontrastabbildung zur Verfügung steht. Es stehen auch Ionenextraktionssysteme zur Verfügung, die eine schadensarme Analyse der Probenoberflächen ermöglichen. JEOL 200CX ist in der Lage, bildgebende Auflösungen von besser als 0,8 nm im SE-Modus und besser als 1,2 nm im BSE-Modus zu erzeugen. Es verfügt über eine eingebaute spannungskompensierte Stromversorgung und kann bei Strahlströmen von 2 nA bis 20 nA zur Röntgenstrahlanregung arbeiten. Darüber hinaus kann das System Röntgenwellenlängen von 2,5 keV bis 22 keV erfassen. Der Einheit kann auch eine optionale Schottky-Feldemissionselektronenquelle hinzugefügt werden, wodurch die bildgebenden Auflösungen sowohl im SE- als auch im BSE-Modus erhöht werden. Das 200CX verfügt über eine breite Palette von zusätzlichen Funktionen und Funktionen. Zur Unterstützung von Video- und digitalen Bildgebungsanwendungen steht eine integrierte digitale Kameramaschine zur Verfügung. Das Tool umfasst auch ein automatisiertes Objekt-Auto-Stigmate-Alignment-Asset und einen Modellcontroller für automatisierte Scans und Datenerfassung. Es verfügt über einen robusten Satz von Software für die Benutzerkontrolle. Und Daten, die in verschiedenen Modi wie SE, BSE oder Röntgen gesammelt werden, können flexibel zu Bilderkombinationen für die dreidimensionale Analyse und Visualisierung kombiniert werden. Insgesamt bietet JEOL JEM 200 CX eine breite Palette von Merkmalen und Vorteilen für nanoskalige Material- und biologische Forschung. Mit seinem gut entwickelten Design und seinen fortschrittlichen Leistungsmerkmalen ist das 200CX eine ideale Mikroskopausrüstung für Forscher, die zuverlässige, hochgenaue Ergebnisse benötigen.