Gebraucht JEOL JEM 2010 #293627916 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop der japanischen Firma JEOL Ltd. Es ist das erste hochauflösende Ultra-Verzerrungsinstrument des Unternehmens mit einer Kaltfeld-Emissionspistole und einem Aberrationskorrektor. Dies ermöglicht es, hervorragende Bildklarheit und beispiellosen Kontrast bei niedrigen Vergrößerungen sowie höhere Vergrößerungen für mehr Details zu liefern. Sein Betriebsspannungsbereich reicht bis zu 250 kV und eignet sich somit für eine Vielzahl von Proben, einschließlich großer anorganischer Proben. Seine dedizierten sekundären und tertiären Elektronendetektoren ermöglichen die Sammlung verschiedener Signale, wie rückgestreute und hochwinklige ringförmige Dunkelfeldbilder (HAADF). Dies gibt Anwendern mehr Kontrolle und Flexibilität bei der Verwendung des Instruments. JEOL JEM-2010 verfügt auch über ein In-Column Gimbal Bühnenbild, das eine präzisere und genauere Probennavigation bei hohen Vergrößerungen ermöglicht. Dies ist wichtig, um bestimmte Funktionen beim Arbeiten mit Proben zu identifizieren, die eine präzise Navigation erfordern. Darüber hinaus ist JEM 2010 mit einem EDS-Detektor (Energy-dispersive Röntgenspektroskopie) ausgestattet, der die Identifizierung von Elementen in den Proben ermöglicht und Einblicke in ihre Zusammensetzung gibt. Das Instrument verfügt auch über eine Kryo-Transfer-Option, die es ermöglicht, Proben während der Analyse auf einer konstanten Temperatur zu halten, wodurch die Möglichkeit einer thermischen Verzerrung und eine höhere Genauigkeit der Ergebnisse vermieden wird. Schließlich verfügt JEM-2010 über eine automatisierte und programmierbare Stufe, die es ermöglicht, Routineaufgaben mit minimalem Benutzeraufwand und erheblich verbesserter Effizienz problemlos durchzuführen. Das Gerät verfügt außerdem über eine Reihe von Softwarepaketen, darunter die MultiMaster-Software zur Erfassung und automatisierten Bildanalyse, die es zu einem All-in-One-Instrument für die Elektronenmikroskopie macht.