Gebraucht JEOL JEM 2010 #293639508 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein funktionsreiches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für Materialforschung, Fehleranalyse und Reverse Engineering-Anwendungen entwickelt wurde. Es bietet eine breite Palette von Funktionen für hochauflösende Bildgebung und Lösungen. JEOL JEM-2010 verwendet eine Kombination aus drei Elektronensäulen, die einen Betrachtungsbereich von 15nm-10 μ m mit einer maximalen Auflösungsgrenze von 1,2 nm bei 1kV bieten. Es ist mit einer fortschrittlichen In-Linsen-CS-Sonde für optimale Strahlfokussierung ausgestattet und kann mit hohen Strömen bis 200 μ A arbeiten. Dies ermöglicht eine Strahlsteuerung mit hoher Präzision und Genauigkeit. JEM 2010 ist in der Lage, eine Vielzahl von Abbildungsmodi zu erzeugen, die es dem Benutzer ermöglichen, Oberflächenmerkmale aufzudecken und elementare Zuordnungen durch Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDS) durchzuführen. Zusätzlich ist es möglich, mit Hilfe der Fähigkeiten von EBIIL-Messungen (Electron Beam Induced Current) und Elektronenstrahl Induced Insertion Loss (EBIIL) gleichzeitig probenelektrische Eigenschaften und morphologische Informationen zu erfassen. JEM-2010 bietet auch ein umfangreiches Sortiment an SEM-Säulen, die jeweils auf die jeweilige Anwendung zugeschnitten werden können. JEOL SEM Anti-Vibration System, bestehend aus Luft- oder Öldämpfern, sorgt für einen stabilen Betrieb, während die Auto Beam Blanking Unit die Objektivlinse und die Probenoberfläche vor dem Elektronenstrahl schützt. Die Probenstufe dieses Mikroskops ist austauschbar und motorisiert für den manuellen oder Programmierbetrieb und hat einen Verfahrbereich von 110 mm in X, 80 mm in Y und 20 mm in Z-Richtung. Darüber hinaus ist es mit einem automatischen Probenaustauscher und mehreren Probenkühloptionen wie dem optionalen Tieftemperaturverlängerer ausgestattet. JEOL JEM 2010 verfügt außerdem über eine automatisierte Elektronensteuerungsmaschine zur Korrektur der Probendrift und Fokussierung des Strahls in Echtzeit sowie über eine leistungsstarke Bildverarbeitungssoftware, mit der Daten analysiert werden können. Mit seinen mehreren Probenhaltern, leistungsstarken Bildgebungsfunktionen und erweiterten Funktionen ist JEOL JEM-2010 das perfekte Werkzeug für die detaillierte Analyse und Bildgebung von Proben.