Gebraucht JEOL JEM 2010 #293741442 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine überlegene Bildgebungsleistung und maximale Betriebseffizienz bietet. Es ist mit einer verbesserten elektronenoptischen Säule und einem Hochleistungs-Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der höchste Bildklarheit und Auflösung gewährleistet. Dieses Mikroskop hat eine maximale Auflösung von 15mm bei 30 kV und eine projizierte Bildgröße von 1 Mikron oder kleiner. Sein Vergrößerungsbereich beträgt 15x bis 300.000x, mit der Fähigkeit, leicht zwischen verschiedenen SEM-Bildgebungsmodi zu wechseln. JEOL JEM-2010 verfügt auch über eine fortschrittliche automatisierte Probenphase mit Autofokus-Funktionen und eine sehr vielseitige digitale Bildgebungsausrüstung. Dies ermöglicht eine dynamische Bilderfassung und schnelle Analyse. Es bietet eine breite Palette von Probenabbildungsmöglichkeiten: von ultrahoher Vergrößerung für die SEM-Bildgebung bis hin zu geringer Vergrößerung für großflächige Oberflächenanalysen. Es ist auch mit einem integrierten Elektronen-Backscatter-Beugungssystem (EBSD) zur detaillierten Kornanalyse ausgestattet. Es kann gleichzeitig helles Feld, Dunkelfeld und polarisierte Lichtbilder erfassen. JEM 2010 hat die Effizienz und den Durchsatz mit Funktionen wie der automatischen Ausrichtung der Probe mit Teilchenbildgeschwindigkeitsmessung, softwareunterstützter Probenzentrierung und automatisierten Bildverbesserungen erhöht. Für erweiterte Automatisierungs- und 2D- und 3D-Messungen verfügt JEM-2010 über eine AutoVision imageCapture und imageAnalysis Software. Diese automatisierte Probenbildaufnahmeeinheit verfügt über eine erweiterte Mustererkennung, Klassifizierung und Analyse sowie eine vollfarbige Stereo-Rekonstruktion, um sicherzustellen, dass die Ergebnisse des Mikroskops genau und zuverlässig sind. JEOL JEM 2010 ist mit einfach zu bedienenden Bedienelementen und einfach zu bedienender Benutzeroberfläche entworfen, so dass es ideal für Forschungs- und Bildungseinrichtungen ist. Es eignet sich sogar für fortgeschrittene Produktionslinien, mit seiner schnellen Wendezeit und intuitiven Bedienelementen. Dieses Rasterelektronenmikroskop hat ein modulares Design-Konzept, mit Reinraum-Standard-Kompatibilität und fortschrittlichen Maschinenfunktionen. Mit einem hohen Grad an Automatisierung, Sicherheitsmechanismen und globalen Unterstützungen ist JEOL JEM-2010 eine zuverlässige Auswahl an SEM für alle Forschungs- und Produktionsanwendungen.