Gebraucht JEOL JEM 2010 #293818185 zu verkaufen

ID: 293818185
Weinlese: 2000
Transmission Electron Microscope (TEM) Gatan Ultrascan 1000 camera Ultra Hight Resolution (UHR) pole piece Minimal Dose System (MDS) Gatan Ultrascan 2000 detector Double tilt holder 2000 vintage.
JEOL JEM 2010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um die Mikrostruktur einer Vielzahl von Proben zu beobachten. JEOL JEM-2010 ist dank seines präzisen optischen Designs in der Lage, hochauflösende Bilder und Bildaufnahmen zu erstellen. Es hat ein einzigartiges semi-invertiertes Design, das eine perfekte optische Ausrichtung für niedrige Vergrößerungen bietet. Dieses Modell ist mit einer gaußschen Kondensatorlinse ausgestattet, die den Elektronenstrahl auf eine ultrafeine Punktgröße fokussieren kann, die Vermessungs- und Analyseanwendungen ermöglicht. Dieses SEM hat auch eine variable Drucknachbeschleunigungskonfiguration, die die Menge und Größe der Artefakte durch Probenaufladung unterdrückt. Das fortschrittliche digitale Bildverarbeitungssystem von JEM 2010 bietet atemberaubende Echtzeit-Bildgebungsleistung. Das Gerät ist mit einer Elektronenstrahlenergie von bis zu 30 keV ausgestattet, so dass der Bediener auch bei geringen Vergrößerungen hochwertige Bilder erhalten kann. Mit einer Pixelgröße von 1 µm zerkleinert die höchste Auflösung von JEM-2010 alle rivalisierenden Modelle und bietet beispiellose Bildqualität zur Visualisierung von Nanostrukturen der Probe. Um die Benutzerfreundlichkeit zu verbessern, verfügt JEOL JEM 2010 über eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche, die die Datenerfassung und -manipulation einfach und konsistent macht. Dieses Instrument ist auch kompatibel mit vielen Rasterelektronenmikroskopie Techniken wie EDX und LA-ICP-MS, sowie viele SEM Bildanalyse Software Programme. JEOL JEM-2010 kommt mit vielen Zubehörteilen, um die Benutzererfahrung weiter zu verbessern. Einige davon umfassen automatisierte Manipulatoren, eine vordere Seitenpistole, eine Niedervakuumpistole, eine Niedrigvakuumstufe, einen automatisierten Probenhandler und eine Probenumkehrvorrichtung, um die Orientierung 180 ° während der Analyse zu schalten. Insgesamt ist JEM 2010 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern beispiellose Bildqualität und Funktionen bietet, die die Effizienz steigern und die Zeit während der Probenanalyse reduzieren sollen.
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