Gebraucht JEOL JEM 2010 #293827624 zu verkaufen
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ID: 293827624
Weinlese: 2001
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Ultra scan 2K camera
Ultra-High Resolution (UHR)
Operating system: Windows XP
2001 vintage.
JEOL JEM 2010 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Modell des Elektronenmikroskops entwickelt, um hochauflösende Bilder und Mikrographen von Materialien und Oberflächen auf Nanometerebene zu produzieren helfen. Dieses spezielle SEM wurde entwickelt, um die Benutzerproduktivität und den Durchsatz mit einer breiten Palette von integrierten Funktionen zu erhöhen, einschließlich der neuesten fortschrittlichen Technologien. JEOL JEM-2010 verfügt über ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) und eine breite Palette von Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV und ist damit eines der vielseitigsten verfügbaren SEMs. Darüber hinaus verfügt das digitale Bildgebungssystem über ein großes Bildfeld von bis zu 20 cm und eine hervorragende Auflösung. Flexible Bedienung ist auch mit der einfach zu bedienenden Benutzeroberfläche und der Möglichkeit, schnell zwischen verschiedenen Probenstufen zu wechseln, ohne die Einstellungen des SEM zu ändern. Die Objektivlinse von JEM 2010 wurde speziell entwickelt, um eine überlegene Leistung für die Beobachtung und Analyse von Proben zu bieten. Die Verwendung fortschrittlicher elektronenoptischer Techniken, wie die dynamische Reduktion der Elektronenstrahlspreizung und die Anwendung von Magnetfeld-Stigmen, ermöglicht es dem Elektronenstrahl, besser fokussiert und genauer zu sein. Darüber hinaus bietet das Hochleistungsobjektiv eine hervorragende Fokustiefe für perfekte und klare Bilder. JEM-2010 bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Modi, von herkömmlichen SEM bis zu Niedervakuum und Hochvakuum-Bildgebung sowie Neigungs- und Rotationstechniken, so dass eine Vielzahl von Daten aus einer einzigen Probe. Die Kombination einer aktiven omnidirektionalen Stufe mit dem Z-Achsen-Regler ermöglicht eine zusätzliche Feinsteuerung der Probe. Insgesamt ist JEOL JEM 2010 ein leistungsstarkes und fortschrittliches SEM, das die bildgebende Qualität und Datengenauigkeit verbessert hat, die Benutzer von ihren Proben erhalten können, so dass sie ihre Arbeit die maximale Auswirkung haben.
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