Gebraucht JEOL JEM 2010 #9192793 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für eine Vielzahl von Substraten von Mikron bis Nanometer-Skala eignet. Dieses leistungsstarke Instrument erfasst Bilder der atomaren Welt, indem es Elektronen verwendet, um ein 3-dimensionales Bild zu erzeugen, das für Forschung und industrielle Anwendungen verwendet werden kann. JEOL JEM-2010 verfügt über eine große Stufe mit 200mm Durchmesser für die Probenplatzierung, die elektromagnetische Kraft verwendet, um bis zu 6 Freiheitsgrade zu erreichen und präzise und kontrollierte Probenbewegungen bereitzustellen. Dieses SEM verfügt auch über eine hochauflösende Feldemissionskanone, die eine Helligkeit von bis zu 10nA Strahlstrom und 1 nm Punktgrößenauflösung für eine außergewöhnliche Bildqualität bietet. Darüber hinaus ermöglicht eine fortschrittliche elektronenoptische Ausrüstung mit drei multifunktionalen Ablenkern und einem Objektivblendensteuerungssystem dem Benutzer, ein Bild der Probe genau zu erfassen. Die Einheit umfasst eine große Palette von bildgebenden Fähigkeiten wie sekundäre Elektronenbildgebung für Oberflächeninformationen, rückgestreute Elektronenbildgebung zur Ansicht von Topographie und Zusammensetzung und hochauflösende Detektoren, die es dem Benutzer ermöglichen, Bilder mit hochauflösender Kontrastverbesserung abzubilden. Durch die Kombination dieser bildgebenden Funktionen kann JEM 2010 subtile Merkmale wie Mikrostruktur, Partikel und Defekte in einer Reihe von Anwendungen erkennen. Dieses vielseitige Instrument bietet eine Fülle von analytischen Informationen. Neben SEM-Bildern kann der optionale energiedispersive Röntgendetektor (EDX) elementare Informationen liefern. Automatisierte Steuerungsfunktionen wie automatisierte Bühnenbewegungen und Echtzeit-Parametereinstellungen reduzieren den Zeitaufwand für die Analyse. JEM-2010 verfügt über eine Software-Suite mit Bildverarbeitungs- und Analysefunktionen. Diese umfassende Suite bietet zusammen mit Anwendungen von Drittanbietern eine Vielzahl von Verarbeitungsoptionen nach dem Test, darunter 3D-Rekonstruktionen, Spektralanalysen und spektrale Bildgebung. Die Software bietet auch Optionen für Maschinensteuerung und Konnektivität, die einen nahtlosen und effizienten Workflow gewährleisten. Abschließend ist JEOL JEM 2010 ein fortschrittliches und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bildgebung und eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten bietet. Das benutzerfreundliche Design und die eingebauten Funktionen machen es ideal für Industrie- und Forschungsanwendungen.