Gebraucht JEOL JEM 2010 #9207418 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um die höchstauflösenden Bilder zur Verfügung zu stellen. Es wurde speziell entwickelt, um erweiterte Mapping-Funktionen anzubieten, mit denen Benutzer viele Funktionen detailliert studieren können. JEOL JEM-2010 wurde entwickelt, um den Anforderungen der Forschung in materialwissenschaftlichen, industriellen und forensischen Anwendungen gerecht zu werden. Das Gerät besteht aus vier Hauptkomponenten: Probenkammer, Detektor (EMF/EDS/Super X), Elektronenkanone und Steuersystem. Die Probenkammer hat einen geräuscharmen Boden, der höchste Bildqualität ohne Reinigung oder zusätzliches Zubehör ermöglicht. Der elektrostatische Kondensator und die Faraday-Käfig-rotierende Anode sorgen für eine optimale Bildqualität mit wenig bis keinen Bildartefakten. Die Elektronenkanone ist das Mittel, mit dem Elektronen aus allen Energien beschleunigt und auf die in der Kammer enthaltene Probe fokussiert werden. Es ist mit Nickelfaserlinsen ausgestattet, die eine optimale Wechselwirkung zwischen Strahl und Probe ermöglichen. Die Super X Pistole verfügt über eine hohe Intensität Fokus Steuerung, sehr breite Rekonstruktion Fähigkeiten, und erhöhte Auflösung. Die Detektionseinheit ermöglicht die gleichzeitige Detektion der Elektronen-, Röntgen- und Sekundärelektronensignale, die im evaneszenten Feld der Probe erzeugt werden. Der Detektor hat einen hohen Dynamikbereich und eine hohe Empfindlichkeit, so dass er sich ideal für die Aufnahme genauer Bilder eignet. Die Maschine ermöglicht auch die gleichzeitige Verwendung von EDX/WDS und Super X-Fähigkeiten, um die Proben mit elementarer und chemischer Zusammensetzung sowie anderen wichtigen Informationen abzubilden. Das Steuerwerkzeug ist integral in den Betrieb von JEM 2010. Es besteht aus einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI) zusammen mit einer Vielzahl von Software-Tools, mit denen Benutzer alle Aspekte des Betriebs steuern können, von der Strahlstrom und Bedingungen, Datenanalyse und Visualisierung. Die Software ermöglicht auch eine einfache Integration mit anderen Systemen, wie 3D-Mapping und Bildanalyse-Software. JEM-2010 ist ein leistungsstarkes High-End-Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Bildqualität und detaillierte Abbildungsfunktionen bietet. Es ist ein ideales Werkzeug für jede Laborumgebung, die an hochauflösender Forschung und Analyse beteiligt ist. Die Kombination aus überlegener Hardware und Software macht JEOL JEM 2010 zu einer großen Wahl für alle, die sich für das fortschrittlichste SEM interessieren.