Gebraucht JEOL JEM 2010 #9241415 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die konsistente Bildgebung und Analyse von Proben in einem Bereich von Vergrößerungen von unter 10 × bis über 100.000 × konzipiert ist. Es kann schnell und genau die Oberfläche von kleinen biologischen und nicht-biologischen Proben betrachten. JEOL JEM-2010 ist mit einer Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -Ausrüstung ausgestattet, die es ermöglicht, die elementare Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Dieses Merkmal ermöglicht eine quantitative Analyse chemischer Spezies in mikroskopischen Proben. Das SEM ist mit einem 1,2 Nanometer chromatischen Aberrationskorrektor ausgestattet, um die Unschärfe von Bildern bei höheren Vergrößerungen zu reduzieren. Es hat auch eine schnell scannende Gantry, die die höchste Auflösung Bilder von jedem SEM in seiner Klasse bietet. JEM 2010 hat eine aktive Fläche von 5mm x 5mm und einen 20mm Arbeitsabstand. Dadurch können kleine Proben beobachtet werden, ohne dass ein übermäßiger Abstand von Probe zu Objektiv erforderlich ist. Die rechte obere Ecke des aktiven Bereichs befindet sich näher an der Kammerfensteransicht, was eine höhere Qualität der Mikrographen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das System über eine integrierte digitale Abbildungseinheit, die eine leistungsstarke Bildmanipulation ermöglicht. Diese Funktion bietet eine Reihe von Funktionen wie Zoom, Vergrößerung, Kontrasteinstellung, Schärfe, negative und zerstörungsfreie Bildbearbeitung. Es enthält auch einen 1K tiefen Bildspeicher und die Möglichkeit, bis zu 5000 Bilder zu speichern. JEM-2010 verfügt über eine computergesteuerte 8-Segmente-Stufe, die Objekte bis zu 100mm horizontal mit einer Geschwindigkeit von 1 mm/sec bewegen kann. Diese Stufe kann verwendet werden, um Folienorte abzubilden und die Zuordnungseffizienz zu erhöhen. Es beinhaltet auch eine 3D-Neigungsstufe, die bis zu 10 Bewegungsgrade in zwei Achsen ermöglicht und eine schräge Beleuchtung ermöglicht, um die Tiefenwahrnehmung zu ermöglichen. Die integrierte Säulensteuerung ermöglicht ein schnelles Umschalten zwischen niedrigen und hohen Vakuumabtastbedingungen. Auf diese Weise kann das SEM eine breite Palette von Abbildungen durchführen, von nichtleitenden bis zu hochleitenden Proben und von nichtmagnetischen bis zu magnetischen Proben, alle mit einem Schalter. JEOL JEM 2010 ist ein beeindruckendes SEM-Paket mit einer umfangreichen Liste von Features. Seine Vielseitigkeit und leistungsstarke bildgebende Fähigkeiten machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für den Einsatz in vielen wissenschaftlichen, industriellen und akademischen Anwendungen des Rasterelektronenmikroskops.