Gebraucht JEOL JEM 2010 #9277008 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Forschungsanwendungen. Es enthält eine Elektronenquelle mit variablem Druck mit hohem Durchsatz für eine verbesserte Instrumentenleistung. Dieses Rasterelektronenmikroskop eignet sich für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Anwendungen, einschließlich Grundlagenforschung von Feststoffen und Flüssigkeiten, Materialbearbeitung und Charakterisierung sowie Halbleiterbauelementstrukturanalyse. JEOL JEM-2010 bietet eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten, wie elementare Zusammensetzungsbestimmung mittels Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDXA) und Halbleiterschaltungsstrukturanalyse mittels Secondary Electron (SE) Imaging. Seine anderen Merkmale umfassen helle Feld, Dunkelfeld, Polarisation und Elektronenbeugung bildgebende Optionen. JEM 2010 ist mit einer Hochleistungs-Elektronensäule ausgestattet, die eine dynamische sekundäre Elektronenbildgebung von Proben bei höheren Vergrößerungen ermöglicht. Dies wird durch ein in-column Primärelektronenstrahl-Ablenksystem weiter verbessert, das dem Anwender eine präzise Steuerung des Primärelektronenstrahls ermöglicht und einfachere Fokuseinstellungen ermöglicht. Die Kolonne der JEM-2010 ist auch in der Lage, eine breite Palette von Beschleunigungsspannungen im Bereich von 1 bis 30 kV, um verschiedenen bildgebenden und analytischen Anforderungen gerecht zu werden. Dies wird durch ultrahochauflösende Scanfunktionen mit einer Auflösung von mindestens 2,5 nm ergänzt. Das maximale Sichtfeld beträgt 1000 μ m. Die variable Druckelektronenquelle mit hohem Durchsatz von JEOL JEM 2010 bietet eine hervorragende Auflösung bei der Visualisierung feinerer Details von Probenoberflächen und steigert so die Produktivität. Es bietet zudem eine effiziente und komfortable Bedienumgebung mit seiner ergonomischen Umgebung, die über intuitive Designsteuerungen verfügt. Schließlich wird JEOL JEM-2010 durch einen exzellenten Kundenservice und Support unterstützt, der den Anwendern die notwendige Unterstützung bei Wartung und Reparaturen bietet, um eine optimale Leistung des Instruments zu gewährleisten.