Gebraucht JEOL JEM 2010 #9278784 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das leistungsstarke bildgebende Fähigkeiten für Forschungslabore bietet. Es verfügt über eine Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV, so dass größere Details mit hoher Auflösung erfasst werden können. Darüber hinaus verfügt JEOL JEM-2010 über ein sehr weites Sichtfeld, mit einem maximalen Zoombereich von beeindruckenden 8.000x. Als solches eignet sich dieses Mikroskop besonders zur Vergrößerung von Proben kleiner Merkmale, die eine detaillierte Untersuchung der betrachteten Strukturen ermöglichen. Dieses Gerät wird von einer Feldemissionskanone (FEG) angetrieben, die Elektronenstrahl-Rauschen minimiert und hochdetaillierte Bilder bei unglaublich hohen Vergrößerungen liefert. Dies ermöglicht eine höhere Genauigkeit bei der Messung von Merkmalen wie Größe, Form und Zusammensetzung. Darüber hinaus ermöglicht das energiedispersive Spektroskopiesystem (EDS) des Mikroskops eine quantitative Analyse der chemischen Zusammensetzung. JEM 2010 ist mit einem ergonomischen Arbeitsraum und einfacher Zugänglichkeit für die Kammer und seine Hilfskomponenten konzipiert. Dieses Workflow-straffende Design ermöglicht den reibungslosen und effizienten Betrieb des Mikroskops, wodurch auch das Risiko von Bauteilschäden durch manuelle Fehler reduziert wird. Darüber hinaus eignet sich sein robustes Design für Langzeitstabilität und Zuverlässigkeit. JEM-2010 verfügt über innovative Kühlsysteme, die eine kryogene Kühlung überflüssig machen, sowie computergesteuerte Aktivwasserstoffreinigungssysteme zur langfristigen fehlerfreien Beobachtung. Abschließend ist JEOL JEM 2010 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das eine Vielzahl von Merkmalen und Fähigkeiten bietet, die für die Arbeit von Forschungslabors unerlässlich sind. Mit seinem breiten Vergrößerungsbereich und zahlreichen Steuerungssystemen ermöglicht es, detaillierte Proben genau und einfach zu analysieren.