Gebraucht JEOL JEM 2010 #9375954 zu verkaufen

JEOL JEM 2010 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Reihe von Anwendungen wie Oberflächentopographie, Elementarkartierung und Strukturanalyse entwickelt wurde. JEOL JEM-2010 vereint beispiellose Steuerung des einfallenden Elektronenstrahls, bildgebende Leistung und operative Einfachheit für fortgeschrittene bildgebende Anwendungen. Die leistungsstarke Elektronenoptik von JEM 2010 ermöglicht eine präzise Steuerung der einfallenden Elektronenstrahlform, was eine überlegene Punktauflösung und eine verbesserte Bildgebungsleistung ermöglicht. Multi-True Focus Bolometer ermöglichen eine präzise Steuerung von Ablenkwinkeln und Strahlengröße und bieten eine hervorragende Auflösung von einem Punkt aus. Das optimierte Säulendesign nutzt auch fortschrittliche Bildgebungstechnologie mit hochpräziser Winkeloptik, dreifachem Aberrationskorrektor und sekundärem Elektronendetektor für außergewöhnliche Bildauflösung und Kontrast. JEM-2010 integriert eine Reihe bequemer benutzerfreundlicher Bedienungen, einschließlich einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und automatischen Kalibrierungsfunktionen. Das automatische Kalibriersystem vereinfacht die Einrichtung des SEM und ermöglicht eine präzise Steuerung von Abbildungsparametern wie Beschleunigungsspannung und Strahlstrom. Darüber hinaus sorgt das innovative Auto-Linsen-Ausrichtungssystem für eine gleichbleibend genaue Bildgebung. Die Umweltkontrollen der JEOL JEM 2010 sind auf langfristige Bildstabilität und Konsistenz ausgelegt. Der Säulenschutzmechanismus verwendet eine sorgfältige Regelung des Kolonnendrucks und der Temperatur, während die Temperatursteuereinheit die Säulentemperatur nach Bedarf anpasst. Darüber hinaus bieten die innovative Stufenmechanik und der Luftsättigungsantrieb eine hohe Abtastgenauigkeit, die eine überlegene Stabilität und einen hervorragenden Probenschutz bietet. JEOL JEM-2010 ist ein wirklich fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das auch den Anforderungen des anspruchsvollsten Labors gerecht wird. Die Kombination aus Präzisionselektronenoptik und leistungsstarken automatisierten Steuerungen ermöglicht eine überlegene Bildgebungsleistung sowie eine vereinfachte Bedienung für maximale Effizienz. Die überlegene Bildauflösung, die benutzerfreundliche Bedienung und die exzellente Umweltkontrolle von JEM 2010 machen es zum idealen Mikroskop für eine Reihe von Forschungsanwendungen.