Gebraucht JEOL JEM 2010 #9394893 zu verkaufen
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ID: 9394893
Transmission Electron Microscope (TEM)
Thermal cathode (Tungsten, Denka LaB6)
Cold trap
Camera side ports length: 15-300 cm
(3) Stage condenser lenses
Beam tilt: 2°
HC Aperture
Magnification: 1000x-800000x
Does not include OLYMPUS Camera.
JEOL JEM 2010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen Hochspannungselektronenstrahl verwendet, um die Oberfläche der Probe mit extrem hohem Detail zu vergrößern und zu analysieren. Dieses SEM ist in der Lage, sehr hochauflösende Bilder von bis zu 0,09 nm mit einem Vergrößerungsbereich von 400-500.000 X bereitzustellen. JEOL JEM-2010 ist für seine hohe Empfindlichkeit und geringe Betriebskosten bekannt und ist somit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen sowohl in der Forschung als auch in der Medizin. Das Mikroskop selbst besteht aus mehreren Komponenten. Das Herzstück des Systems ist die Elektronenquelle, die Geschützanordnung und die Probenstufe. Die Elektronenquelle feuert einen fein fokussierten Elektronenstrahl durch eine speziell entwickelte Objektivlinse. Diese Elektronen werden dann zur Probenstufe geleitet, wo sie mit der Probe interagieren, um vergrößerte Bilder der Probenoberfläche zu erzeugen. JEM 2010 verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, mit denen es für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden kann. Es ist in der Lage, Bilder mit hohem Kontrast und sehr guter Auflösung zu erzeugen. Das Mikroskop kann auch zur Ausrichtung und Messung von sehr kleinen Merkmalen wie metastabilen Flächen, Galliumarsenidbarrieren und sehr dünnen Filmen eingesetzt werden. Darüber hinaus verfügt es über die Fähigkeit, zeitaufgelöste Bilder zu erfassen, die für die Untersuchung der Dynamik von Oberflächenphänomenen nützlich sind. JEM-2010 verfügt auch über ein integriertes EDS-System, mit Röntgendetektoren auf Achse montiert. Dies ermöglicht die Zusammensetzungsanalyse der Probenzusammensetzung, während der Elektronenstrahl sie abtastet, was wertvolle Informationen für die forensische oder medizinische Forschung liefern kann. Insgesamt ist JEOL JEM 2010 ein außergewöhnlich leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen und Funktionen bietet. Es ist sehr vielseitig und kompatibel mit einer Vielzahl von Zubehör und Muster-Stufen, so dass es eine gute Wahl für eine Reihe von verschiedenen Anwendungen.
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