Gebraucht JEOL JEM 2010 #9397253 zu verkaufen

Ein JEOL JEM 2010 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das überlegene bildgebende Fähigkeiten bietet, um die Struktur einer breiten Palette von Arten von Proben auf der Nanoskala zu analysieren. Es ist ideal für Anwendungen in der Material- und Ingenieurwissenschaft, Geologie, Biologie und mehr. JEOL JEM-2010 bietet eine Reihe von Spezifikationen und Funktionen, die es zu einem leistungsfähigen Werkzeug für analytische Studien machen. JEM 2010 ist ein Feldemission-SEM, das eine lückenlose, nicht-fadenförmige Elektronenquelle verwendet, um qualitativ hochwertige, hochauflösende Bilder mit dem höchstmöglichen Kontrast zu erzeugen. Es ist mit einer ultrahochauflösenden Feldemissionskanone, einem hochempfindlichen rückgestreuten Elektronendetektor und einem Autofokussierungssystem ausgestattet, um detaillierte, nanoskalige Bilder mit bis zu 0,2 nm Skala zu erfassen. Seine ultrahohe Massenauflösung ermöglicht es JEM-2010, Bilder der äußersten Atomschichten einer Probe bereitzustellen. Neben seinen leistungsstarken bildgebenden Funktionen bietet JEOL JEM 2010 auch Röntgenspektrometrie und Energy Dispersive X-ray (EDX) -Funktionalität zur Analyse der Zusammensetzung einer Probe. Es ist mit einem Röntgendetektor, einem wellenlängendispersiven Spektrometer und einem energiedispersiven System ausgestattet, um Informationen über die chemische Elementkonzentration in einer Probe zu erfassen. JEOL JEM-2010 bietet auch eine Reihe von Probenmanipulationswerkzeugen wie eine drehbare Probenstufe und eine automatisierte Kipp- und Drehbewegung an. Dies hilft Forschern, verschiedene Probenbedingungen schnell und genau zu testen. JEM 2010 verfügt über einen großen Vergrößerungsbereich, der für die Analyse einer Vielzahl von Probengrößen geeignet ist. Es bietet maximale Vergrößerungen bis 300.000x bei einer Mindestleistung von 2 MV. Es hat auch einen Neigungswinkelbereich von 10-90 Grad für 3D-Bildgebung und einen Präzisionsmustersteuerbereich von 0,3 nm. Dadurch wird sichergestellt, dass die Probe für präzise Messungen immer den richtigen Abstand zum Elektronenstrahl hat. JEM-2010 ist in der Lage, bei niedrigen bis hohen Temperaturen mit einem optimalen Bereich von -25 ° C bis + 80 ° C abzubilden. Es ermöglicht dem Benutzer auch die Einstellung des Strahlstroms, der Punktgröße und der einstellbaren Elektronenspektralfilter für eine größere Vielseitigkeit der gesammelten Daten. Die erweiterten bildgebenden Fähigkeiten und breiteren Funktionalitäten von JEOL JEM 2010 machen es zu einem idealen Werkzeug für die nanoskalige Forschung.