Gebraucht JEOL JEM 2010F #293621943 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein Rasterelektronenmikroskop für hochauflösende Anwendungen auf einer breiten Palette von Proben. Sie zeichnet sich durch eine ausgezeichnete Empfindlichkeit, Stabilität und eine bis zu einmillionenfache Beobachtungsvergrößerung je nach Probe aus. Die Feldemissionselektronenquelle sorgt für ein hochwertiges Bild mit einer abstrahlinduzierten Beschädigung der Probe. JEOL JEM-2010F ist mit einer Niedervakuumkammer ausgestattet, die die Wasserkühlung überflüssig macht und die Wartung auf ein Minimum reduziert. Dieses Rasterelektronenmikroskop zeichnet sich durch eine außergewöhnliche Stabilität mit einem Signal-Rausch-Verhältnis von 200:1 aus, was für scharfe Bilder und verzerrungsfreie Messungen sorgt. Darüber hinaus verfügt JEM 2010F über einen hochflexiblen Beobachtungsmodus mit der Fähigkeit, rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen, unelastische Elektronen, Photoelektronen und Augerelektronen zu detektieren. In Kombination mit einer umfangreichen Auswahl an Detektoren ist das Gerät in der Lage, eine Vielzahl von Probentypen zu analysieren. JEM-2010F kommt auch mit einer Reihe von fortschrittlichen Technologien und Zubehör, um seine bildgebenden Fähigkeiten zu verbessern. Dazu gehört ein Dual-Beam-System, das eine gleichzeitige Abbildung auf zwei verschiedene Arten ermöglicht, z.B. SEM/TEM oder STEM/EDX. Die Option Advanced Analytical Unit (AAS) bietet eine automatisierte Sammlung analytischer Daten. Ein weiteres nützliches Merkmal ist die benutzerfreundliche Probenhandhabungsmaschine, die einen einfachen Austausch von Proben und Probenhaltern während der Beobachtung ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JEM 2010F ein unglaublich leistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das eine detaillierte Untersuchung einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Seine fortschrittlichen Technologien machen es zum idealen Werkzeug für eine breite Palette von Forschung und Analyse.