Gebraucht JEOL JEM 2010F #293805112 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Es ist in der Lage, extrem detaillierte Bilder von Oberflächenstrukturen bei Vergrößerungen bis zu 150.000 Mal zu erzeugen. JEOL JEM-2010F verwendet eine Feldemissionskanone (FEG) vom Typ In-Linse, die einen Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit und eine Punktgröße mit niedrigem Elektronenstrahl liefert. Dies ermöglicht eine Subnm-Auflösung von bis zu 0,3 nm und sorgt für hervorragenden Kontrast und Übersichtlichkeit des Bildes. Es ist entworfen, um mit Niederspannung zu arbeiten, für zusätzliche Flexibilität und Sicherheit. JEM 2010F enthält einen integrierten drehbaren EBSD-Detektor, der eine gleichzeitige Beobachtung und Analyse der kristallographischen Eigenschaften ermöglicht. Es verfügt auch über einen rückgestreuten Elektronendetektor und eine Vielzahl von digitalen Bildgebungsfähigkeiten. Die mit dem Gerät ausgestattete Software ermöglicht automatisierte Bildnähte, dreidimensionale Analyse und automatisierte Navigation und Tomographie. JEM-2010F verfügt über eine motorisierte Probenstufe mit variabler Neigung, die eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht, sowie automatisiertes SEM-Scannen. Der Arbeitsabstand kann bis zu 200mm für die Fernabbildung eingestellt werden. Die Bühne umfasst außerdem ein 9-Achsen-motorisiertes System zum automatisierten Scannen und Navigieren sowie eine Kamerasteuerung zum Manipulieren der Probe. JEOL JEM 2010F bietet eine breite Palette von Funktionen entwickelt, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung zu erhalten. Es enthält eine Vakuumeinheit mit erhöhter Pumpgeschwindigkeit und minimierter Ausgasung sowie Ionen- und Elektronenkanonenheizung für verbesserte Strahlstabilität. Die Maschine verfügt außerdem über ein automatisiertes Video-Sicherheits-Tool und eine integrierte automatische Entfokussierung. JEOL JEM-2010F ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen bietet, um eine hochauflösende Bildgebung und Analyse zu ermöglichen. Die integrierte Software, die motorisierte Probenstufe und der EBSD-Detektor bieten leistungsstarke Funktionen und sind somit eine ideale Wahl für elektronenmikroskopische Anwendungen.