Gebraucht JEOL JEM 2010F #293820051 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Elektronenquelle mit hohem Durchsatz, erweiterten Bildgebungsfunktionen und einer Vielzahl von Benutzermodi. Mit seiner raffinierten Linsentechnologie hat JEOL JEM-2010F eine Auflösung von bis zu 2 Nanometern und eine Vergrößerung von bis zu 250.000. JEM 2010F ist ein variables Druckinstrument, das einen niedrigen bis mittleren Vakuumbetrieb ermöglicht. Auf diese Weise können Proben untersucht werden, ohne dass eine Beschichtung mit leitfähigen Materialien erforderlich ist, wodurch empfindliches Material erhalten bleibt. Es verfügt über ein schnelles und einfaches Umschalten zwischen Hoch- und Niedervakuummodus. Eine rotierende Anodenröntgenquelle sorgt für eine Signalverbesserung, die eine erhöhte Detail- und Tiefenschärfe ermöglicht. Eine vakuumgekammerte Probenstufe bietet eine stabile Plattform zur Analyse von Proben und ein Manipulatorarm eine präzise Positionierung der Probe für eine optimale Bildgebung. Der Sekundärelektronendetektor ist an der Probe angebracht und kann zur Messung der Oberflächentopographie und zur Erzeugung von 3D-Reliefbildern verwendet werden. JEM-2010F verfügt über ein Dual-Imaging-System, das den gleichzeitigen Betrieb von Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronendetektoren ermöglicht. Dadurch erhält der Anwender Informationen über die atomare Zusammensetzung und Konzentration von Elementen in der Probe. Mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) kann die elementare Zusammensetzung der Probe nanometergenau abgebildet werden. Eine vollständige Kammer-Ionenquelle sorgt für Probenreinigung und Tiefenprofilierung. Die Suite an Bildgebungs- und Analysefähigkeiten sowie die benutzerfreundliche Bedienung machen JEOL JEM 2010F zu einem leistungsstarken Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt über eine umfassende Reihe von Tools, die die Entwicklung von fortgeschrittenen Bildgebungs- und Analyseanwendungen ermöglichen. Dieses Mikroskop ist ideal für die Mikroanalyse, spektrale Bildgebung und vieles mehr.