Gebraucht JEOL JEM 2010F #9184351 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen. Dieses hochmoderne SEM kombiniert ein 20mm2-Sichtfeld mit einer Auflösung von bis zu 0,4 nm und einem Kammerdruck von 10-9 Pa.Dies macht es ideal für die hochauflösende Abbildung von Materialien im Nanometermaßstab. Die robuste Konstruktion des SEM ermöglicht es dem System, sowohl Nieder- als auch Hochspannungs-Bildgebung zu handhaben, so dass es ideal für den Einsatz für eine Vielzahl von Anwendungen ist. JEOL JEM-2010F kann in einem weiten Spannungsbereich von 0 bis 30 kV arbeiten und kann auch in einem variablen Druckmodus für nichtleitende Proben arbeiten. Dieses SEM verfügt über eine Neigungsstufe, die eine Probenbeobachtung in jedem Winkel ermöglicht. JEM- 2010F ermöglicht sowohl die Standard-Elektronendetektion als auch die rückgestreute Elektronenbildgebung. Mit seinem 5-Tilt-in-Linsen-STEM-Detektor ermöglicht das Mikroskop die gleichzeitige Abbildung verschiedener Materialien und Merkmale. Darüber hinaus ermöglicht sein Sekundärelektronen-Sensorsystem eine präzise zusammengesetzte Zusammensetzungen-Kartierung. Die Bedienung von JEM-2010F wird durch eine intuitive Benutzeroberfläche und leistungsstarke Automatisierungsfunktionen vereinfacht. Dies ermöglicht eine schnelle und effiziente Bildgebung bei minimalem Benutzereingriff. Darüber hinaus ist JEOL JEM 2010F in eine Reihe von Nachbearbeitungs- und Analysewerkzeugen integriert, die den kompletten Workflow von der Bildgebung bis zur Analyse bieten. Dazu gehört die Fähigkeit, eine Vielzahl von Eigenschaften wie Oberflächentopologie, Zusammensetzung, Korngröße, Schichtdicke und Dotierungskonzentration zu messen. JEOL JEM-2010F ist eine ideale Wahl für hochauflösende Bildgebung und komplexe Probenanalyse. Das breite Spektrum an Funktionen, gepaart mit einem robusten Design und einer leistungsstarken Benutzeroberfläche, macht JEM 2010F zu einer idealen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.