Gebraucht JEOL JEM 2010F #9235270 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um die Anforderungen moderner bildgebender und analytischer Anforderungen in einer Vielzahl von Anwendungen zu erfüllen. Das Gerät mit seiner fortschrittlichen Optik wurde entwickelt, um auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen die höchstauflösenden Bilder mit überlegener Fokustiefe anzubieten. JEOL JEM-2010F ist mit einer Vielzahl von Technologien ausgestattet, um die bildgebende Effizienz zu maximieren. Die Säule verwendet ein 20-mm-Ablenkelektronen-optisches System, um das Laden von Einheiten und das Abtasten von Verzerrungen zu reduzieren und gleichzeitig beispiellose Auflösung, Kontrast und Bildklarheit zu liefern. Darüber hinaus ermöglichen automatisierte FEG-Steuerungen, eine einzigartige Signalerkennungs-/Korrekturschaltung und die Fähigkeit, die Strahldosis zu erhöhen, eine optimierte Abbildung selbst der anspruchsvollsten Proben. JEM 2010F umfasst auch überlegene Hardware- und Softwarekomponenten, um eine Reihe von Analysefunktionen aufzunehmen, von EDXRF bis EBSD/EPMA. Die integrierte EDXRF-Maschine führt eine schnelle Röntgenanalyse durch, während das eingebaute EBSD/EPMA-Tool die Charakterisierung einer Vielzahl von anorganischen und organischen Materialien, einschließlich Halbleitern und Nanomaterialien, ermöglicht. In Bezug auf Benutzerfreundlichkeit ermöglicht die Easy Auto-Focus (EAF) Funktion eine einfache und mühelose Bedienung des Mikroskops. Der EAF-Modus ist ideal für die Bearbeitung von Proben mit unebenen Oberflächeneigenschaften. Der Stabilitätsmonitor des Vermögenswertes sorgt auch dafür, dass das Exemplar konstant beobachtet wird und ermöglicht den zuverlässigen Betrieb des Instruments über längere Zeiträume. Mit seiner Kombination aus modernster Technologie und benutzerfreundlichen Funktionen ist JEM-2010F Rasterelektronenmikroskop das ideale Instrument für ein breites Spektrum wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen. Durch die Bereitstellung höchster Bildqualität und analytischer Leistung wurde dieses Modell entwickelt, um die anspruchsvollsten bildgebenden Anforderungen zu übertreffen.