Gebraucht JEOL JEM 2010F #9253109 zu verkaufen

JEOL JEM 2010F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hervorragender Bildgebungsfähigkeit. Das System bietet hochwertige, großvergrößerte Bilder mit einer sehr feinen Auflösung von bis zu 0,2 nm. Dies wird durch eine Kaltfeld-Emissionsquelle und spezielle schwingungsarme Technologie erreicht, was zu einem besseren Kontrast und höherauflösenden Bildern führt. Dank des automatisierten Beschickungssystems, das einen schnellen Probentransfer vom Halter in die Abbildungskammer ermöglicht, ist das 2010F in der Lage, eine schnelle Probenvorbereitung durchzuführen. Es stehen eine Vielzahl von Probenvorbereitungsverfahren zur Verfügung, wie Vakuummessung von Wasserdampf und DEBIE™ Sputterbeschichtung. Das 2010F beinhaltet eine Vielzahl von Analysefunktionen für die Hochleistungs-Bildgebung. Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) ermöglicht die elementare Analyse von Proben. EDX-Mapping kann verwendet werden, um kompositorische Verteilungen über die Probenoberfläche abzubilden. Das 2010F verfügt über eine anpassbare grafische Benutzeroberfläche (GUI), die einen schnellen Zugriff auf die Einstellungen des Mikroskops und die Auswahl der am besten geeigneten Abbildungsparameter ermöglicht. Das 2010F hat eine große Kammergröße von 200 mm für einachsige Neigung, so dass die großflächige Abbildung schnell und effizient ist. Das System verfügt auch über eine Detektorstufe, die um 360 ° rotiert, um die Probe aus mehreren Winkeln zu überwachen. Das 2010F kann in verschiedenen Branchen eingesetzt werden, darunter Medizin, Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Elektronik. Es eignet sich für eine Vielzahl von Probentypen, von biologischen Proben bis hin zu organischen und anorganischen Substanzen. Das 2010F ist so konzipiert, dass es nur einen minimalen Wartungsaufwand erfordert. Niedriger Stromverbrauch und hohe Zuverlässigkeit; bedeuten, dass die 2010F eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen ist.