Gebraucht JEOL JEM 2011 #293668339 zu verkaufen

JEOL JEM 2011 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder komplexer topographischer Merkmale zu erzeugen. Das Mikroskop verwendet einen Kaltfeld-Emissionsstrahl - eine Elektronenkanone, die einen Elektronenstrahl erzeugt, der dann von einer Kondensatorlinse auf die Probe fokussiert wird. Dadurch entsteht ein Rastermuster auf der Probenoberfläche, das dann von einer bildgebenden Linse abgetastet wird und ein vergrößertes Bild der Probenoberfläche bildet. Dieses Bild wird dann von einem Detektor gelesen, der ein digitales Bild der Probe erzeugt. JEM 2011 ein zuverlässiges und vielseitiges SEM, das eine Vielzahl von Anwendungen hat, wie Materialwissenschaft, forensische Wissenschaft und Halbleiterforschung. Sie weist eine Arbeitskammer auf, die eine Vakuumdichtkammer ist und einen Probenhalter zur Sicherung der Probe und eine Beobachtungskammer aufweist, in der Bilder erzeugt werden. Es kann Proben analysieren, die von einigen Mikrometern bis zu mehreren hundert Nanometern reichen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, elementare und chemische Analysedaten mit Energy Dispersive X-ray (EDX) Spectroscopy und Electron Back Scatter Diffraction (EBSD) zu sammeln. JEOL JEM 2011 ist mit einer Reihe von erweiterten Funktionen ausgestattet, um Benutzerfreundlichkeit und Genauigkeit zu maximieren. Dazu gehört ein Auto-Start-Feature, das die Art der Probe erkennt und die Parameter des Mikroskops automatisch an die optimalen Einstellungen anpasst. Es kommt auch mit einer eingebauten automatisierten Stufensteuerung, die die Probe einfach und schnell scannen ermöglicht. Eine Reihe von Bild- und Messfunktionen, wie Intensitätskontrast, Atomkraftmikroskopie (AFM) und digitale Bildverarbeitung stehen zur Verfügung, damit Forscher Proben genau analysieren und untersuchen können. JEM 2011 ist ein leistungsstarkes Werkzeug bei der Analyse und Visualisierung von Materialien. Es ist in der Lage, scharfe und detaillierte Bilder mit hohem Kontrast und Auflösung. Es kann verwendet werden, um die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Probe zusammen mit ihrer Topographie und Strukturen zu messen. Das Mikroskop ermöglicht zudem eine schnelle Probenanalyse durch Hochgeschwindigkeits-Scanning und automatisierten Prozess. All diese Eigenschaften machen JEOL JEM 2011 zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Laborarbeiten.